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三琦电子高温介电温谱测量系统

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详细介绍

一、系统概述

   高温介电温谱测量系统又可称之为介电阻抗谱仪介电温谱仪,该系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成,包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。

  高温测试平台是为样品提供一个高温环境;高温测试夹具提供待测试样品的安装平台;阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。zui后,再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起,形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的高温介电温谱测量系统。


高温介电测量系统(精密型)的副本.png

   高温介电温谱测量系统可测量陶瓷、薄膜、半导体等块状材料高温阻抗或介电特性,可与WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析仪集成使用,组成一套集实验方案设计、测量、数据输出、数据分析的高温介电温谱测量系统。可同时测量及输出频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、介电温谱、阻抗谱的测量数据与图形。测试频率为DC-30MHz

     二、功能特点

  • 夹具多样化,1+3组合便捷实用

  公司自主研发有高温介电测试夹具、高温四探针夹具、高温两探针夹具,可与高温测试平台配套组成一套或多套高温阻抗、介电测量系统。

  • 控温精度高,7种控温方式可选

  温度范围从室温至600、800℃,具备精确的PID控制算法,控温精度可到±0.3℃,确保温度控制不超调。提供7种不同控温方式,满足客户多种测试需求。

  • 国际标准测试,数据更加可靠

  高温介电测试夹具根据国际标准ASTM D150方法,采用平行板电极原理设计。电极由上电极、下电极以及保护电极组成。上下电极具有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围空气电容的影响,使得测试数据更加准确可靠。

  • 阻抗分析仪集成度高,可定制开发

  公司开发的高温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台、高温测试夹具与WK6500系列、Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron 1260 LCR测量设备无缝连接,实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外,还可根据用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。

  • 图谱数据一次测量,同时输出

  软件可根据实验方案设计,通过测量C和D值,自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量,同时输出,测量效率高、数据丰富多样。

  •  数据库存档,数据分析更高效

  软件自带数据库存储系统,数据可保存至系统数据库,可供历史数据查询与分析。另外,还支持Excel、txt文件格式导出保存。

三、  技术参数

校准频率:DC-30MHz

夹具设计:符合ASTM D150国际标准

测试原理:平行板电容器原理

测试电极:平行板上下电极+保护电极

电极直径:26.8mm

温度范围:RT-1000℃

工作温度:RT-600℃,RT-800℃

控温精度:±0.3℃

显示精度:0.1℃

升温速率:1-6℃/min

控温方式:提供恒温、变温、常温三种控温方式,同时结合升温、降温温区可组合7种不同的测量方法。

温度控制:带智能PID控制算法,全温区控温无超调。

图谱数据:频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、时间谱、介温谱一次测量,同时输出,可保存BMP格式文件。

数据保存:数据库存储,支持excel、txt格式导出

测试样品:薄膜、陶瓷

样品尺寸:直径:小于40mm,厚度:小于8mm

通讯接口:RS232接口


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