GB 5594.5-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法-仪器网

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仪器网/ 行业应用/ 行业标准/ 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法

GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for volume resistivity 标准状态：现行 标准ICS号： 31.03 发布日期：1985-01-01 中标分类号：L32 实施日期：1986-01-02 出版语种：中文 下载 分享

标准简介

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500°C范围体积电阻率的测定。

其他信息

起草人：王明珍、赵小伟
起草单位：南京电子管厂
归口单位：信息产业部（电子）
提出部门：中华人民共和国电子工业部
发布部门：信息产业部（电子）

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