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上海交通大学/ 采购信息/ 薄膜测厚仪
求购

薄膜测厚仪

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询价时间:2019-01-23
报价截止:2019-02-04
期望收货:2019-02-04
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产品名称 采购量 求购描述
薄膜测厚仪
1套
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补充说明

测量精度要在纳米级别,主要用于半导体或者金属材料 可以测哪些基底对应的哪些膜,还有没有其他功能,都可以附带说明一下

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