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ICP-AES|电感耦合等离子体发射光谱仪|ICP-AES原理及特点|ICP-AES应用及发展

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ICP-AES是指电感耦合等离子体发射光谱仪,可用于地质、环保、化工、生物、医药、食品、冶金、农业等方面样品中七十多种金属元素和部分非金属元素的定性、定量分析。ICP-AES指标信息:1.检测范围:可以测定全部的金属元素及部分非金属元素。2.完全无断点。3.可以进行多元素同时测定。4.线性宽,稳定性好。

ICP-AES
ICP-AES的故障解决
ICP-AES的故障解决

电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES),是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法,具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测...[查看全部]

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ICP-AES原理及特点
ICP-AES原理及特点

电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES),是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法,具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点,国外已广泛用于环境样品及岩石、矿物、金属等样品中数十种元素的测定。

ICP-AES的工作原理

电感耦合等离子体焰矩温度可达6000-8000K,当将试样由进样器引入雾化器,并被氩载气带入焰矩时,则试样中组分被原子化、电离、激发,以光的形式发射出能量。不同元素的原子在激发或电离后回到基态时,发射不同波长的特征光谱,故根据特征光的波长可进行定性分析;元素的含量不同时,发射特征光的强弱也不同,据此可进行定量分析,其定量关系可用下式表示:

式中:

I—发射特征谱线的强度;

C—被测元素的浓度;

a—与试样组成、形态及测定条件等有关的系数;

b—自吸系数,b≤1 

等离子体发射光谱这种方法能够一起检测样品当中多个元素的含量,在氩气经过等离子体火炬的过程中,通过射频发生器发射的交变电磁场让它电离提高速度并且和别的氩原子进行碰撞,这种连锁反应让许多氩原子电离,组成原子和离子以及电子的粒子混合气体,也就是等离子体。

不一样元素的原子其激发或者是电离的过程中能够发射出特征光谱,因此,等离子体发射光谱可以用做检测样品当中存在的元素。特征光谱的强和弱与样品当中等待检测元素的浓度有着较大的关系,和规范系列溶液作比较,就能够测量出样品当中每个元素的含量。

ICP-AES仪器装置

Thermo Scientific™ iCAP™ PRO ICP-OES 和 iCAP™ PRO X(点击图片查看更多产品详情)

1.感应圈 2.冷却器 3.辅助气 4.矩管 5.试样载气

高频电发生器和感应圈提供电磁能量。矩管由三个同心石英管组成,分别通入载气、冷却气、辅助气(均为氩气);当用高频点火装置发生火花后,形成等离子体焰矩,接受由载气带来的气溶胶试样进行

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ICP-AES应用及发展
ICP-AES的应用及发展

ICP-AES这项技术具有速度较快且十分准确灵敏的优点,在环境和地矿以及冶金以及生物等多个领域多元素分析当中得到了十分广泛的应用,这项技术和设备已经比较成熟。本文主要对ICP-AES及其应用进行进一步的研究论述,分别从方法原理以及具体的应用方式等环节入手,提出ICP-AES的应用方式,旨在给ICP-AES技术应用方面提供一定的参考和帮助。

一般在岩石和矿物以及土壤还有冶金这些行业中应用的较多,其定性分析范围较广,但是因为样式基体和激发光源以及电流这些条件的限制,在定量分析中适用长时间受到极大的约束,在上世纪五十年代,原子发射光谱发展面临瓶颈,相关学者将其运用到发射光谱分析,建立了diyi台电感耦合等离子体发射光谱设备,自从七十年开始,原子发射光谱才再次获得发展和应用。因此,下面将进一步研究论述ICP-AES及其应用。

ICP-AES方法的原理

等离子体发射光谱这种方法能够一起检测样品当中多个元素的含量,在氩气经过等离子体火炬的过程中,通过射频发生器发射的交变电磁场让它电离提高速度并且和别的氩原子进行碰撞,这种连锁反应让许多氩原子电离,组成原子和离子以及电子的粒子混合气体,也就是等离子体。

不一样元素的原子其激发或者是电离的过程中能够发射出特征光谱,因此,等离子体发射光谱可以用做检测样品当中存在的元素。特征光谱的强和弱与样品当中等待检测元素的浓度有着较大的关系,和规范系列溶液作比较,就能够测量出样品当中每个元素的含量。

ICP-AES的应用1、在大气颗粒物分析中的应用

其主要使用的仪器包括电感耦合等离子体发射光谱仪、超声波清洗剂等,使用的试剂有硝酸、高氯酸盐酸。

实验过程是处理样品,配置标准溶液,检测样本并得出结果。

①试验人员会把滤膜剪成细小的长条状,并把它们放到烧杯中,再放入新的滤膜作为空白使用,做成检测样本。

②配置溶液,遵循每个元素互不干扰的原则,把不同的化学元素用超纯水稀释,包括Cu

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ICP-AES使用注意事项
ICP-AES的使用注意事项和维护保养

本文针对电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-AES)的特点,概述了仪器基本的使用环境及条件一并对仪器的维护保养提出了具体的方法。

一、ICP-AES的发展

1986年至今,商检系统先后引进了近三十六台技术水平比较先进的电感耦合等离子体发射光谱仪,主要分布在各省、市、沿海地区商检局,这一先进的检验手段无疑促进了商检事业的发展,十多年来取得了可喜的成绩。但是,一个严峻的问题摆在我们面前,国家花大量外汇引进的设备,如何使用、维护保养,是延长仪器寿命、提高利用率的重要保证,也是大家普遍关心的问题。作者介绍了十年来对仪器使用维护的经验教训。供国内同行们参考。

电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-AES),不论是固定道型或顺序扫描型,都包括电源、光源、分光、测光等几个部分。分光部分包括光栅、滤光片。出入射狭缝、电子控制系统。光源部分由高额发生器、等离子体焰炬、气体控制系统、雾化装置组成。测光部分包括光电倍增管、负高压电源、计算机数据采集和处理系统等。电源则包括稳压器、仪器低压电源装置(电子控和系统用电源、计算机电源及各种标准参比电源等)。

因此,一台ICP仪器较之一般的实验室仪器,如原子吸收光谱仪、可见一紫外分光光度计、气相色谱仪等都要复杂得多,不但需要一定的使用环境,还要做到正确使用,合理维护保养,才能使仪器经常保持良好的状态,充分发挥仪器的作用。十年来,我们在使用和维护仪器方面有较深的体会。

二、ICP-AES一定要有良好的使用环境

等离子体光谱与其它大型精密仪器一样,需要在一定的环境下运行,失去这些条件,不仅仪器的使用效果不好,而且改变仪器的检测性能,甚至造成损坏,缩短寿命。根据光学仪器的特点,对环境温度和湿度有一定要求。如果温度变化太大,光学元件受温度变化的影响就会产生谱线漂移,造成测定数据不稳定,一般室温要求维持在70—75℃间的一个固定温度,温度变化应小于1℃。而环境湿度过大,光学元件

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ICP-AES常见故障问题及解决办法
ICP-AES的故障解决

电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES),是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法,具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点,国外已广泛用于环境样品及岩石、矿物、金属等样品中数十种元素的测定。今天,我们为您带来ICP-AES分析常见12个故障问题及解决办法!

1.影响等离子体温度的因素有:①载气流量:

流量增大,ZX部位温度下降。

②载气的压力:

激发温度随载气压力的降低而增加。

③频率和输入功率:

激发温度随功率增大而,近似线性关系,在其他条件相同时,增加频率,放电温度降低。

④第三元素的影响:

引入低电离电位的释放剂的等离子体,电子温度将增加。

2.电离干扰的消除和YZ:

原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少,因而降低分析信号。在标准和分析试样中加入过量的易电离元素,使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上,从而YZ或消除分析元素的电离。此外,由于温度愈高,电离度愈大,因此,降低温度也可减少电离干扰。

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3.试剂酸度对ICP-AES法的干扰效应主要表现在哪些方面?

提升率及其中元素的谱线强度均低于水溶液随着酸度增加,谱线强度显著降低,各种无机酸的影响并不相同,按下列顺序递增:HCl、HNO3、HClO4、H3PO4 、H2SO4;谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。所以在ICP-AES测试中,应尽量的避免使用H3PO4、H2SO4作为介质。

4.ICP-AES法中的光谱干扰主要存在的类型:

谱线干扰;

谱带系对分析谱线的干扰;

连续背景对分析谱线的干扰;

杂散光引起的干扰;

基体干扰;

YZ干扰等。

对于谱线干扰,一般选择更换谱线,连续背景干扰一般用仪器自带的扣背景的方法消除

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