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- 【导读】一、背景扫描测试是测试集成电路的标准方法。绝大部分集成电路生产测试是基于利用扫描逻辑的ATPG(自动测试向量生成)。扫描ATPG特点是结果的可预测性高并且效果不错。它还能实现精确的...
一、背景
扫描测试是测试集成电路的标准方法。绝大部分集成电路生产测试是基于利用扫描逻辑的ATPG(自动测试向量生成)。扫描ATPG特点是结果的可预测性高并且效果不错。它还能实现精确的缺陷诊断,有助于进行分析并改进。随着集成电路尺寸的增长并且制造工艺的规模越来越小,嵌入式压缩被加入了扫描DFT(可测性设计)逻辑,从而将测试时间缩短了多个数量级。但是,当很少有或没有可用的测试仪界面时,内置自我测试(BIST)十分有必要。但越来越多的集成电路会同时需要这两种不同类型的测试。嵌入式压缩和逻辑内置自我测试使用了类似的逻辑方法,因此通过在混合测试解决方案中共享压缩和内置自我测试逻辑来节省DFT逻辑面积就变得十分合理。
二、混合测试方法的优势
有了混合测试方法,你就能选择从测试仪中提供嵌入式压缩ATPG向量或在设备逻辑内置自我测试中自动应用和分析向量。你可以凭借在一个或多个区段中(图1)的ZY控制器和共享压缩解码器/LFSR和压缩器/MISR逻辑按照从上到下的流程插入混合逻辑。你也可以按照从下到上的流程插入混合逻辑,使你能够在每个区段完成逻辑插入,包括包装器(Wrapper)隔离链。拥有混合测试逻辑的区段能够用于任何一种集成电路中并且逻辑内置自我测试或区块嵌入式压缩向量能够被直接重复使用。即插即用逻辑和向量方法在ding级集成电路中节省了大量的ATPG时间。
混合测试解决方案,压缩(嵌入式决定性测试)和逻辑内置自我测试共享大部分解码器/LFSR和压缩器/MSIR逻辑
嵌入式压缩ATPG为混合解决方案中的逻辑内置自我测试带来了优势。由于嵌入式压缩ATPG拥有出色的生产缺陷检测功能,逻辑内置自我测试就不需要拥有强大的缺陷检测能力。因此,随机向量抵抗逻辑所需的测试点相应要少,从而大大减少逻辑内置自我测试面积。嵌入式压缩的另一个优势就是低功耗测试。混合测试方法利用低功耗移位逻辑,因此用户能够在ATPG或内置自我测试中选择切换活动。
同样地,混合方法中的逻辑内置自我测试为嵌入式压缩ATPG带来了优势。逻辑内置自我测试为去除未知状态而使用的X-bounding对于在MISR内生成可预测的信号十分必要。它还能加强ATPG电路的可测性,尤其是在增加更多测试点的情况下。因此,混合方法中的逻辑内置自我测试基础架构能够使嵌入式压缩ATPG拥有更高覆盖和更少向量。
三、研究报告总结
以上就是混合测试方法吸引逻辑内置自我测SY户的所有理由。有了这种方法,老化不再需要测试仪来应用ATPG向量,因为用户能够使用逻辑内置自我测试,并且整体ATPG压缩和向量数目能够得到改进。
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- 2004-09-14 09:23:06
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