日立X射线荧光分析仪的功能特点

日立X射线荧光分析仪的功能特点　　功能特点　　1.快速扫描　　日立 EA6000VX 能量色散型X射线荧光分析仪凭借Zda150万CPS的高计数率检测器完成高灵敏度的测量，以及借助Zda250 mm×200 mm范围扫描的快速电动样品台，实现快速扫描测量。对于范围为100 mm×100 mm的情况，可在2～3分钟内检测出端子部分的铅并确定其位置。　　2.连续多点测量　　X射线荧光分析仪Z多可指定500个测量位置进行连续多点测量。由于采用自动测量方式，因此在测量大量样品是，也可发挥GX率。　　3.高精密重合　　通过Telecentric Lens 系统和高速?高精度XY平台，将元素扫描像和光学成像进行重合对微小部品的ZX部分的目标元素也能进行简单观察。Zda250 mm×200 mm上方观察，并且能够实现广域位置Z小误差为100 μm以内的精确定位。　　4.微小部位测量　　在FT系列中被公认的测量镀膜膜厚仪器就是由EA6000VX。不用说极薄的镀金等膜厚测量，即便是在进行镀膜钟所含的Pb等有害物质分析的膜压测量的同时也可进行膜厚测量。比如也可进行无铅焊锡镀层及引线框架上Sn镀层，无电解Ni镀膜中所含的有害物质的浓度测量。　　5.环境中限制物的测量　　RoHS等限制物的高灵敏度测量，短时间内测出树脂、金属等中含有的微量环境限制物。对复合样品也可专注到特定部位进行测量　　6.轻元素测量　　通过安装充氦选购项，可以分析钠开始的轻元素。测量中能够独立运转的氦气系统。将使用成本Zda化降低。　　7.透视扫描机能　　笔记本、手机等不能透过外包装看到内部构造的产品，无需拆解就可得到不仅仅是基板上的Pb，甚至其他各种元素的扫描图。通过比较X射线照射后得到的元素扫描图像，可以了解关于产品内部部件构造的各种情报。　　8.异物检测EA6000VX　　EA6000VX通过快速扫描功能可以在几分中内检测出宽广范围（Zda250 mm×200 mm）内含有的几十 μm的微小金属异物，并查明其具体位置。也可检测出树脂等有机物内部还有的微小、微量金属异物。　　9.安全、安心的操作性　　日立能量色散型X射线荧光分析仪可以自动接近、防止冲撞功能 操作台上样品一旦设定好启动后，自动测量出样品的Zda高度，移动到Z适合的测量高度。即便是复杂形状的样品，操作员也可轻松测量。另外，即便通过操作指南调整了测量高度，由于安装了防止冲撞传感器，因此不会使样品受到损伤。