Agilent 5975C系列GC/MSD 详细信息

Agilent5975C系列GC/MSD详细信息

Agilent5975C系列GC/MSD构建在行业领xian、高可靠性和高性能的色谱分析技术坚实的基础之上，配置三轴HED-EM检测器，大大增强了产品性能，因此显著地提高了分析性能，将您的实验室的GC分析效率推向新的高度。

高温整体惰性离子源提升仪器的性能

ZL的惰性离子源满足三个基本要求。化学惰性将活性组分和中性化合物的损失降至Zdi。高温(350?C)有助于高沸点组分的峰形改善，Zda程度地降低了由于高沸点组分导致的离子源的污染。延伸至四极杆内的新颖设计的透镜，将优化的传输离子聚焦到RF/DC场中，得到业内Z佳的信噪比。

ding级标准的四极杆设计和性能

独特的四极杆具有无与伦比的性能和可靠性。真正双曲面石英结构的场误差Zdi,分辨率更高和在任何工作温度下都具有优异的质量轴稳定。事实上，这个非凡的整体稳定性的石英镀金四极杆允许200?的温度，从而保证质量分析器在整个生命周期都保持干净状态。

三轴检测器

三轴检测器将从四极杆传输过来的离子束在进入到电子倍增器之前转两次弯。这个创新的的设计使得离子的捕集效率提高（信号增强）而中性信号被过滤。检测器采用新型的三通道倍增器，其放大倍数和寿命都有显著的提升。安捷伦新型的电子倍增器归一化调谐优化功能保证了离子数、线性和电子倍增器寿命三者之间达到了Zyou的平衡。而且归一化调谐使得在倍增器老化之后还能得到一致的灵敏度以及有利于不同气质之间的结果比对。

微量离子检测和第二代的解卷积报告软件（DRS）对于复杂样品的痕量组分的分析达到了新的水平。

微量离子检测（TID）从基线，峰和谱图中过滤掉噪音以提高检测灵敏度，它可以配或不配解卷积报告软件（DRS）。对于复杂样品分析中常见的共流出问题，NISTAMDIS的解卷积计算是气质分析复杂样品中痕量组分的工具。在解卷积处理之后，“干净”的谱图可以提供更准确的谱库检索结果，基于解卷积分析的定量分析结果降低了目标离子定量分析结果的误差。气相色谱/质谱化学工作站将AMDIS的结果集成于Qedit中以及报告中，所以用户可以快速比较标准和解卷积分析的结果。利用微量离子检测和解卷积报告软件（DRS），方法检测限（MDL）和定量限（LOQ）更低。假阳性和假阴性率更低，所以结果的可信度大大提高。

高性能的选择离子检测(SIM)和全扫描

同时进行SIM/Scan的功能能实现在同一次分析采集选择离子检测（ＳＩＭ）和全扫描的数据，但是不损失分析灵敏度。选择离子检测的离子驻留时间设定范围一般是100msec到1msec，步进是1msec。自动选择离子检测（ＳＩＭ）可以将全扫描质谱数据自动转换到选择离子检测或SIM/scan的参数中，这样大大节约了分析方法的建立时间。

微板流路控制技术大大提高了分析效率，降低了成本，提升了分析能力

第五代EPC，是惰性、低质量、低死体积的装置，无泄漏，柱箱内连接，它为提高气相色谱能力和性能建立了各种配置。对于复杂样品的GC/MS分析中高沸点组分迟流出峰的问题,　反吹是必不可少的工具。更短的分析时间、更少的离子源污染，更常色谱柱寿命为所有的实验室带来效益。毛细管分流器和ZX切割（Deansswitching）提高了多检测器联用（ＭＳＤ－ＥＣＤ）和ZX切割分析方法的可靠性。利用化学工作站控制，这些功能已经成为气－质联用分析的常规方法。

气相色谱/质谱工作站软件助您完成日常工作中的每一次分析工作

安捷伦气相色谱/质谱化学工作站软件操作简单，即使不是专家也能轻松地将Agilent5975CGC/MSD的功能发挥至ji致。先进的功能包括：

维护和可靠性特点

模块化分析仪装置可以让您方便地接触到离子源和电子倍增器以便快速地进行仪器的日常维护。

前置式玻璃可视窗可使您检查离子源类型以及连接状况。

高可靠性的真空系统将长期稳定性发挥到Zda；可选择无油机械泵，这样可以彻底免去维护，降低噪音，以及在含有氨气那样的腐蚀性环境中工作。

所有的5975C气相色谱/质谱联用仪都配备了三轴检测器:

5975CinertXLEI/CIMSD气相色谱/质谱联用仪的Zgao水平，是全功能的高性能气相色谱/质谱联用仪。

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