快速测定颗粒大小的解决方案

快速测定颗粒大小的解决方案

筛析**进行筛析利用 XP 天平称量散装产品

测定颗粒大小变得越来越重要。如果在生产过程中颗粒分布发生变 化，则成品质量也将随之改变。因此，简单、快速地测定颗粒大小 是散装产品生产过程中质量保证的重要需求。

逻辑称量过程颗粒大小对于固体的物理与化学 性质具有显著影响。一般对于进 货检测与质量控制而言，经常需 要对颗粒与粉末产品的质量进行 严密监测。

在许多行业领域，筛法被用作分 析和测定颗粒尺寸分布的方法， 如咖啡等。筛析经常由非熟练或 半熟练员工进行，这意味着仪器在现在的典型称量过程中，结果 可手写在特制的表格中，或者打 印出来，甚至可从天平直接传输 至 电 脑 （ 例 如 ： 使 用 我 们 的 LabX ™ 软件），用户只需按两个

按钮即可完成。使用多个筛网进行工作在筛分时，经常会使用 6 至 8 种

不同尺寸的筛网。这种情况下可将 XP 天平与 LabX ™ 软件连接简单过程

操作必须非常简单。 XP 天平使得使用，用户可根据触摸屏上的结果立即显示

可将多种滤网尺寸作为检测设备进行 保存筛析成为一项既简单又具有至高 逻辑性的任务。

将空筛网放置在 天平上，将天平去皮后对样品称量。

然后进行实际筛析。当筛析 结束后，操作人员只需将筛网重 新放回到天平上，然后读取显示

屏上的结果。显示**结果XP 系列天平不同于其他系列的天平

因为它能够自动以 % 显示筛 网“回称”结果，以 g 或 kg 显示筛余物。此外，还可进行设置 显

示毛重 。 如果需要 ， 可以 12 种以上的语言显示所有用户菜单。

导一步步将筛网按照正确的顺序 放置到天平上。然后由天平检查 是否放置了正确的筛网。

在筛网 称量后，自动计算颗粒尺寸分 布。并将所有数据保存在办公电 脑的后台中。

称量方法还可自动 创建颗粒尺寸分布与其他所有相 关数据的个性化格式打印报告。

通过以如此简单、快速与安全的 方式进行筛析可避免错误，并节 省时间。

　

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