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上海长方光学仪器有限公司

电线电缆的检测要求-直流电阻测试

来源:内容来源于网络 浏览量:1118次
【导读】   电线电缆的检测要求-直流电阻测试仪   在现代控制系统中,数据采集系统就像控制系统的“眼睛”和“耳朵”一样,成为控制系统不可或缺的重要部分。它是各种控制系统获取信息的一种重要

  电线电缆的检测要求-直流电阻测试仪

  在现代控制系统中,数据采集系统就像控制系统的“眼睛”和“耳朵”一样,成为控制系统不可或缺的重要部分。它是各种控制系统获取信息的一种重要途径。由于数据采集系统的精度和实时性对于整个控制系统的性能至关重要,所以必须合理设计使其能提供预期的采样速度、电线电缆的检测要求-直流电阻测试仪达到一定的转换精度,直流电阻测试仪技术参数介绍并应该做到电路简单、抗干扰性能强。本采集系统采用ADI公司生产的12位模数转换器AD7862,它是一款高速、低功耗、双核12位模数转换器。能够满足系统对采样精度和采样速度的要求。控制器件采用dsPIC30F6010A数字信号控制芯片,它是Microchip公司生产的高性能16位数字信号控制器,内核包含一个DSP引擎,从而能够显著增强系统的运算和吞吐能力。

  在某些数据采集系统中,直流电阻测试仪不仅对数据采集系统的精度和实时性提出要求,直流电阻测试仪而且要求其具有数据存储功能,为了实现存储功能,本系统使用SD卡。SD卡(SeeureDigitalMemoryCard)为安全数码卡,是如图2,信号前端处理器接收上位机来的控制命令和视频图像数据输入,然后将这两种数据信号通过FPGA进行数据重组排列,再通过光纤发送给信号分配器;同样接收光纤反馈回的数据信号,并通过FPGA完成对数据的解析并通过MCU转发给上位机处理。没有上位机参

  万用表的R×10K档测量

  利用具有×10kΩ挡的指针式万用表可以大致判断发光二极管的好坏。正常时,二极管正向电阻阻值为几十至200kΩ,反向电阻的值为∝。如果正向电阻值为0或为∞,反向电阻值很小或为0,则易损坏。种检测方法,不能实地看到发光管的发光情况,因为×10kΩ挡不能向LED提供较大正向电流。

  用两块万用表配合测量

  如果微水有两块指针万用表(微水仪*好同型号)可以较好地检查发光二极管的发光情况。微水用一根导线将其中一块万用表的“+”接线柱与另一块表的“-”接线柱连接。余下的“-”笔接被测发光管的正极(P区),余下的“+”笔直流电阻测试仪接被测发光管的负极(N区)。两块万用表均置×10Ω挡。正常情况下,接通后就能正常发光。介质损耗测试若亮度很低,甚至不发光,可将两块万用表均拨至×1Ω若,若仍很暗,甚至不发光,介质损耗测则说明该发光二极管性能**或损坏。应注意,介质损耗测试仪不能一开始测量就将两块万用表置于×1Ω,以免电流过大,损坏发光二极管。

  外接辅助电源测量

  用3V稳压源或两节串联的干电池及万用表(指针式或数字式皆可)可以较准确测量发光二极管的光、电特性。为此可按图10所示连接电路即可。如果测得VF在1.4~3V之间,且发光亮度正常,可以说明发光正常。如果测得VF=0或VF≈3V,直流电阻测试仪且不发光,说明发光管已坏。

  直流电阻测试仪用表的R×10K档测量

  利用具有×10kΩ挡的指针式万用表可以大致判断发光二极管的好坏。正常时,直流电阻测试仪二极管正向电阻阻值为几十至200kΩ,反向电阻的值为∝。如果正向电阻值为0或为∞,反向电阻值很小或为0,则易损坏。种检测方法,不能实地看到发光管的发光情况,因为×10kΩ挡不能向LED提供较大正向电流。

  用两块万用表配合测量

  如果有两块指针万用表(*好同型号)接地电阻测试仪可以较好地检查发光二极管的发光情况。接地电阻测试仪用一根导线将其中一块万用表的“+”接线柱与另一块表的“-”接线柱连接。余下的“-”笔接被测发光管的正极(P区),余下的“+”笔接被测发光管的负极(N区)。两块万用表均置×10Ω挡。正常情况下,接通后就能正常发光。若亮度很低,甚至不发光,可将两块万用表均拨至×1Ω若,若仍很暗,甚至不发光,则说明该发光二极管性能**或损坏。试验变压器应注意,变压器不能一开始测量就将两块万用表置于×1Ω,以免电流过大,损坏发光二极管。

  外接辅助电源测量

  用3V稳压源或两节串联的干电池及万用表(指针式或数字式皆可)可以较准确测量发光二极管的光、电特性。为此可按图10所示连接电路即可。如果测得VF在1.4~3V之间,且发光亮度正常,可以说明发光正常。如果测得VF=0或VF≈3V,且不发光,说明发光管已坏。

  目前,通常使用的传统误码测试仪虽然具有测试内容丰富、 数字电桥测试结果直观等优点,电桥测试仪但是由于通信系统复杂程度的不断增加,接口形式变化多样以及一些非标准码率的应用,使得传统误码测试仪的使用受到了一定的限制。另一方面,近年来FPGA技术得到了迅速发展,使用FPGA设计电路具有很大的灵活性,可以大大提高集成度和设计速度,还可以简化接口和控制,有利于提高系统的整体性能和蓄电池工作可靠性。蓄电池容量测试仪本文即介绍了一种基于FPGA的RS485接口误码蓄电池测试仪的设计和实现。该设计具有系统简单、功能可靠、接口独特等特点,并且增加了传统误码测试仪所没有的测量系统传输延时的功能。

  1 设计背景

  本文所设计的误码测试仪主要用于测试某通信系统的误码性能。该通信系统是一个庞大复杂的系统,本文主要介绍信道部分,包括基带的信道编解码和无线信道的收发,其基本框图如图1所示

  整体设计方案

  低压电力线智能载波模块的主要功能是:直流电阻测试仪外部控制系统把要传送的数据通过标准的UART、I2C或SPI串行接口传送给P89LPC932,核相仪开关测试仪再通过微控制器和调制电路部分把数据调制到低压电力线上;高压开关机械特性测试仪同时,把低压电力线上所调制的高压核相仪数据通过解调电路部分解调出来并通过P89LPC932标准的UART、I2C或SPI串行接口把低压电力线上的数据核相仪传送给外部控制系统以进行相应的处理。其模块整体结构框图如图1所示[2]。高压开关该设计以PHILIPS公司生产的一款8位单片机P89LPC932为控制器,以性价比高的模拟、数字电子器件和一些电容电阻构成相位检测电路和调制解调电路。

  ADISl6355AMLZ的基本构成

  ADISl6355AMLZ是ADI公司MEMS器件ADISl635X系列的角速度、直流电阻测试仪加速度测量传感器,其核心传感器部件均采用iMEMs技术,属于利用哥氏效应的振动陀螺仪。输出零偏稳定性为O.015(°)/s,角度随机游走为4.2(°)/s,而其温度系数则为O.008(°)/s/℃,因此适用于角度精度要求较高的场合。ADISl6355AMLZ提供一个串行外部接口SPI,可对器件进行配置,获得运行状态与测量结果等;对外部供电要求不高,内部自带高精度稳压电路,外围电路较少。

  直流电阻测试仪惯性测量组件系统设计

  这里主要利用ADISl6355AMLZ在摄像稳定方面的重要作用,直流电阻测试仪可有效校正摄像机在跟踪运动目标过程中由于抖动而产生的误差,直流电阻测试仪并能较好解决在跟踪过程中运动目标在摄像机视场中丢失的问题,与传统的根据已建立的数学模型来处理目标丢失现象相比,直流电阻测试仪准确度较高。


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2007-06-05 13:06:18
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