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- 【导读】 目前随着分析技术的不断发展,X荧光光谱仪分析的应用越来越普遍。X射线荧光光谱仪可以对从Be-U的元素进行定性和定量的分析。 尽管x射线荧光光谱分析压片方法因操作简单、分析速...
目前随着分析技术的不断发展,X荧光光谱仪分析的应用越来越普遍。X射线荧光光谱仪可以对从Be-U的元素进行定性和定量的分析。 尽管x射线荧光光谱分析压片方法因操作简单、分析速度快、精确度高、成本低等优点在水泥生产中广泛应用,但由于水泥原料矿物的成分及结构复杂,样片的制作因人而异及X射线荧光光谱仪本身测量的影响等,都会对测量的精确度带来影响。影响测量精确度的主要因素有: (1)标样选取代表性不够; (2)样品的制作过程与标样不一致,如粉磨粒度不同、助磨剂的加入量不一致等带来引起测量的误差; (3)样片表面不清洁,有裂痕、样片厚度与标样不一致等也会给分析带来影响; (4)基体效应,水泥工业中的原料都是一些不均匀粉末,.来源不同的原料,其粒度、成分、矿物形态以及元素的干扰严重,基体效应是影响XRF分析精确度的Zda因素。基体效应主要有三种情况: ①颗粒效应,由粒度、粒度分布、颗粒形状及颗粒内部不均匀性引起的物理效应; ②矿物效应,化学成分相同的物质由于结晶条件的差异而造成的晶体结构不同,如石墨和金刚石,不同晶体结构的同种元素产生不同强度的荧光X射线,从而造成误差; ③元素间效应,是指其他元素对待测元素的荧光X射线强度的影响,又叫吸收-增应(基体吸收初级x射线束影响初级X射线对待测元素的激发;基体吸收待测元素的荧光X射线束;基体元素放射出的荧光X射线束位于待测元素吸收限的短波侧,被待测元素吸收激发出待测元素的特征谱线)。 在上述各种影响因素中,因制样过程已较为完善,且人为因素带来的误差不可消除,因此继续研究制样过程来减小分析误差已没有很大的提升空间。基体效应是带来分析误差Z主要的因素,且基体效应是矿物的本身带来的影响,矿物的成分和矿物结构或形态直接关系颗粒效应、矿物效应、元素间干扰效应。从近些年的国内外文献、期刊上来看,学者们对这方面的研究不多,因此研究原料矿物的成分和形态对XRF测试的影响从根本上减小测量误差、提高精确度的方法,对水泥质量控制提供一定的理论支撑,具有一定的工业和现实意义。
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- 2004-07-31 09:01:46
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X荧光光谱仪在水泥质量控制应用中存在的问题
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