X荧光光谱仪在水泥质量控制应用中存在的问题

   目前随着分析技术的不断发展，X荧光光谱仪分析的应用越来越普遍。X射线荧光光谱仪可以对从Be-U的元素进行定性和定量的分析。  尽管x射线荧光光谱分析压片方法因操作简单、分析速度快、精确度高、成本低等优点在水泥生产中广泛应用，但由于水泥原料矿物的成分及结构复杂，样片的制作因人而异及X射线荧光光谱仪本身测量的影响等，都会对测量的精确度带来影响。影响测量精确度的主要因素有：  (1)标样选取代表性不够；  (2)样品的制作过程与标样不一致，如粉磨粒度不同、助磨剂的加入量不一致等带来引起测量的误差；  (3)样片表面不清洁，有裂痕、样片厚度与标样不一致等也会给分析带来影响；  (4)基体效应，水泥工业中的原料都是一些不均匀粉末，．来源不同的原料，其粒度、成分、矿物形态以及元素的干扰严重，基体效应是影响XRF分析精确度的Zda因素。基体效应主要有三种情况：  ①颗粒效应，由粒度、粒度分布、颗粒形状及颗粒内部不均匀性引起的物理效应；  ②矿物效应，化学成分相同的物质由于结晶条件的差异而造成的晶体结构不同，如石墨和金刚石，不同晶体结构的同种元素产生不同强度的荧光X射线，从而造成误差；  ③元素间效应，是指其他元素对待测元素的荧光X射线强度的影响，又叫吸收-增应(基体吸收初级x射线束影响初级X射线对待测元素的激发；基体吸收待测元素的荧光X射线束；基体元素放射出的荧光X射线束位于待测元素吸收限的短波侧，被待测元素吸收激发出待测元素的特征谱线)。  在上述各种影响因素中，因制样过程已较为完善，且人为因素带来的误差不可消除，因此继续研究制样过程来减小分析误差已没有很大的提升空间。基体效应是带来分析误差Z主要的因素，且基体效应是矿物的本身带来的影响，矿物的成分和矿物结构或形态直接关系颗粒效应、矿物效应、元素间干扰效应。从近些年的国内外文献、期刊上来看，学者们对这方面的研究不多，因此研究原料矿物的成分和形态对XRF测试的影响从根本上减小测量误差、提高精确度的方法，对水泥质量控制提供一定的理论支撑，具有一定的工业和现实意义。

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