微区扫描电化学新时期技术能量的体现

    微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。  普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，为不同扫描探针试验，定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和SignalRecovery7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的精确测量。  普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：  1.ScanningElectrochemicalMicroscopy(SECM)扫描电化学显微镜  2.ScanningVibratingElectrodeTechnique(SVET)扫描振动电极测试  3.ScanningKelvinProbe(SKP)扫描开尔文探针测试  4.LocalizedElectrochemicalImpedanceSpectroscopy(LEIS)微区电化学阻抗测试  5.ScanningDropletCell(SDC)扫描电解液微滴测试  6.Non-ContactSurfaceProfi领(OSP)非触式光学微区形貌测试  以上普林斯顿维区电化学工作站每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区扫描电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。  微区扫描电化学是一个模块化的系统，微区扫描电化学可实现当今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：  -扫描电化学显微镜(SECM)  -扫描振动电极测试(SVET)  -扫描开尔文(Kelvin)探针测试(SKP)  -微区电化学阻抗测试(LEIS)  -扫描电解液微滴测试(SDS)  -非触式微区形貌测试(OSP)  微区扫描电化学利用纳米级分辨率的快速精确，闭环x,y,z定位系统，并连同一个便捷的数据采集系统使用户依据自己的实验选择配置。微区扫描电化学系统设计灵活且人体工程学设计方便确保池体，样品和探针的进入。  近年来，微区扫描电化学技术发展迅猛，在腐蚀和电沉积科学中的表面反映过程基础研究，酶稳定性研究，生物大分子的电化学反应特性，化学传感器，点蚀孔蚀，涂层完整性和均匀性，涂层下或逾金属界面间的局部腐蚀，缓蚀剂性能等相关领域得到广泛应用，微区扫描电化学倍受科技工作者的关注。

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