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FT110系列X射线荧光镀层厚度测量仪
- 品牌：日本日立
- 型号： FT110系列
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
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广州昌利信科学仪器有限公司
更新时间：2024-01-22 16:24:28 -
企业性质生产商
入驻年限第9年
营业执照已审核
- 同类产品能量色散型X射线荧光分析仪(10件)
联系方式：昌信客服400-099-8330
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- 详细介绍
1.即放即测！
2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！
3.可无标样测量！
4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！
1. 通过自动定位功能提高操作性
测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。
2. 微区膜厚测量精度提高
通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
3. 多达5层的多镀层测量
使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4. 广域观察系统（选配）
可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。
5. 对应大型印刷线路板（选配）
可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
型号
FT110
测量元素
原子序号Ti（22）～Bi（83）
X射线源
空冷式小型X射线管
管电压：50（可变更）kV
管电流：10～1000µA检测器
比例计数管
准直器
○型： 0.1 mmΦ、0.2 mmΦ 他2種
样品观察
CCD摄像头
对焦
激光对焦（自动）
滤波器
一次滤波器（自动切换）
样品区域
[固定]535×530 mm
[电动] 260×210 mm (移动量X:250 mm, Y:200 mm)测量软件
薄膜FP法（最大2层、10种元素）、检量线法
安全功能
样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能
- 技术资料
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