美国TA DIL 806 光学热膨胀仪

美国TA DIL 806 光学热膨胀仪 测试原理

DIL 806 中使用的光学热膨胀测量方法是一个的测量过程，完全不受仪器的膨胀或收缩影响。因此，测量结果不需要根据不同的温度程序来进行校正或校准。通过与 DIL 806 炉的快速响应特性相结合，该系统非常适合涉及多个温度步骤和动态加热速率的动态分析过程。

高性能 LED 向样品发射宽幅平面光，并由高分辨率 CCD 传感器检测样品阴影。然后检测到的信号由数字化边缘检测处理器进行评估，从而灵敏并准确地测量尺寸的变化。该原理被称为阴影光方法，能够准确、地测量样品尺寸随温度的变化。

样品被置于盘形炉的中心平台上，不受外力作用。因此，DIL 806 膨胀仪尤其适合测量金属，并且在配备可选的零度以下炉子时可测量塑料样品。

薄样品也可采用专为此类应用设计的样品支架来轻松进行分析。

宽幅入射光线意味着该仪器不像其他传统膨胀测量技术那样要求严格的样品制备，并且样品在平台上的位置不需要精确定位，这样不熟练的操作人员也可轻松使用。

仪器自动测定和保存初始长度，以用于后续的线性热膨胀系数计算。

炉体能够采用最高达 100 ℃/min 的速度快速加热，并在 10 分钟内从 1400 ℃ 冷却至 50 ℃。

美国TA DIL 806 光学热膨胀仪 测试技术

光学膨胀测量

非接触式膨胀测量允许样品自由膨胀/收缩，不受机械接触引起的干扰。这将更精确地测定样本的尺寸变化以及事件发生时的温度。并且，样品上不存在因接触测量系统而产生的任何负荷，从而能够将分析从软化点扩展至熔化态，并且还可分析通常无法测试的软质样品。

100 μm 高的检测区域

由于采用聚焦 LED 光束，因此进行热膨胀测量的样品区域允许在整个样品长度范围内达到 100 μm 高。与传统膨胀仪不同，这样能够显著简化样品制备过程，因为样品的平面性及表面粗糙度不会对测量精度造成显著影响。

样品的水平和垂直方向均可实现均匀的温度

样品被置于可快速响应的盘形炉的中心。该设计确保了在整个温度分析范围内，样品均可获得充分、均匀的温度处理，并且可获得快速的加热/冷却速率。

测量方法无需校准和校正

阴影光方法为固有的测量方法，该方法中，样品尺寸变化的测量不受仪器测量系统尺寸变化的影响，仅取决于测试温度曲线。因此，对于需要不同加热/冷却曲线的测试方法，DIL 806 是一种非常灵活、高效的工具，因为无需运行和保存校准和/或校正曲线

环境控制

DIL 806 对测试过程中环境条件的高效控制使用户不仅可在空气中分析样品，还可在真空和惰性气体中进行分析（这是金属和金属合金分析的关键要求）

美国TA DIL 806 光学热膨胀仪 应用技术

金属 – 薄膜的热膨胀

传统上来说，由于顶杆接触力，顶杆热膨胀仪测量的薄膜可能是有问题的。DIL 806光学膨胀仪是理性的表征薄膜和其他对样品尺寸和制备有限制的材料的仪器。在这个例子中，薄钢箔的热膨胀和相变，由DIL 806非接触式光学膨胀仪测量表征。测量过程是的和非接触式的，所以不需要系统校准曲线。有使用的样品架支撑薄膜样品。

快速烧成陶瓷

DIL 806固有的非常快的升温速率、出色的温度均匀性和简单的编程，非常适合模拟工业生产过程。生坯陶瓷的快速烧成过程由于可以节省能源和时间，因此是可取的。然而，在许多情况下，这种类型的热处理产生不完全的致密化产品。在这个例子中，样品被迅速加热，直到到达一个用户定义的收缩率。在这个时候，使用多重等温和冷却速率，以密切检测材料的烧结行为。通过微调这些温度控制参数，并基于热膨胀仪测量，该工业过程可以简化，实现流水化生产，生产出期望的物理性质和具备加工成本优势的产品。