美国布鲁克台阶仪

探针式表面轮廓仪

布鲁克探针式表面轮廓仪（又称“台阶仪”）历今四十载，积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量，到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试，Dektak台阶仪适用面广，为用户提供准确性高，重复性好的测量结果。

在教育、科研领域和半导体制程控制，Dektak广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。近几年，Dektak系统已经成为发展的太阳能电池市场的测试工具，

DektakXT

桌面型探针式表面轮廓仪

布鲁克DektakXT®台阶仪设计创新，实现了高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达4埃。这项测量性能的提高，达到了过去四十年Dektak®体系技术创新的，更加稳固了其行业中的领先地位。不论应用于研发还是产品测量，在研究工作中的广泛使用是的DektakXT地功能更强大，操作更简便易行，检测过程和数据采集也更加完善。技术的突破也实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。

探针式轮廓仪的黄金标准

DektakXT®探针式轮廓仪的设计创新，实现了垂直高度重复性高达4埃，数据采集能力提高了40%。这一创新和突破，使得DektakXT实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。

技术创新四十余载

Dektak品牌是首台基于微处理器控制的轮廓仪，实现微米测量的台阶仪，可以达到3D测量的仪器，个人电脑控制的轮廓仪，DektakXT开创性的风格，采用具有具有单拱龙门式设计，配备全彩HD摄像机，并且利用64位同步数据处理模式完成zui测量和操作效率的台阶仪。

参数：

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