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植物根系X射线-CT扫描成像分析系统——RootViz FS
- 品牌:Phenotype Screening
- 型号:
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 上海泽泉科技股份有限公司 更新时间:2024-04-23 15:51:02
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企业性质生产商
入驻年限第10年
营业执照已审核
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- 详细介绍
美国Phenotype Screening公司的植物根系X射线扫描成像分析系统RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统,用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析,可以拍摄根系的立体X射线照片。
这套系统是植物根系研究领域继根视(rhizotron)系统(如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统)后激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后,借助扫描仪进行分析,这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分,而且属于离体分析,不能进行动态监测。而植物根系X射线扫描成像分析系统是非破坏性的原位分析系统,可以全方位分析植物根系所有部分(包括根尖等),并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应,可对株高高达2.0m,根系深达1.0 m的植株进行分析。
系统特点 l 非入侵性
l 非破坏性
l 高效率
l 高精度
l 信息量大
l 可控条件下长期监测
l 根系生长发育动态研究
l 根系表型研究
主要功能 Ø原位、非破坏的研究植物根系
Ø全方位分析植物根系所有部分
Ø长期监测植物根系的生长动态
Ø大容量、高效率、高精度的获取根系信息
Ø大批量快速筛选根系突变株
Ø完全可控条件下根系的生理、病理研究
Ø植物茎秆的无损检测
Ø植物种子的无损检测
技术原理
系统组成工作流程
应用领域
应用实例一:根系生长发育的动态监测
玉米出苗后 40 天的根系动态生长监测
利用红/蓝立体眼镜可以观看立体效果
应用实例二:不同品种间根系的差异
相对较大的角度分布,
相对较短、较粗的根
相对较小的角度分布,
相对较长、较细的根
两种水稻(Ra4993 和 Ra5531)的不同变种间根系的差异,利用植物根系X-光扫描成像分析系统可以容易的进行分析,而传统的洗根后扫描的方法会将根系间的角度差别忽略掉
利用红/蓝立体眼镜可以观看立体效果
应用实例三:根系系统分类
利用肉眼很难区分不同变种的植物根系。而借助植物根系X-光扫描成像分析系统结果,以侧根密度和主根长度为坐标轴得出的散点图,可以对大豆变种的根系进行分类。上图中,多根变种分布于中心线的上部,而正常品种分布于中心线的下部。将这两个品种杂交后,这种方法可用于快速扫描后代的多根特性。
应用实例四:根系对胁迫响应
特制培养介质不含营养盐、水分和任何害虫,因此研究人员可方便的添加不同营养盐、水分和害虫进行胁迫响应研究。
根瘤线虫的计数测量,上图是演示的根瘤随时间的变化而变化的趋势图
应用实例五:植物茎杆的X光成像研究
通过低能的X光成像技术可以无损的检测玉米的果穗茎,上图为实际获得的玉米果穗茎的图片
应用实例六:种子X光成像研究
无损研究植物种子内部的结构,比较同种不同个体之间的差异,上图为玉米种子成像图片
应用实例七:棉桃X光成像研究
通过立体眼镜查看棉桃内部的立体结构,可以分析棉桃内部不同部位的详细信息,上图为棉桃内部立体图片
主要技术参数
1.1工作条件:
Ø 环境温度:-5~+45℃
Ø 相对湿度:0-80%
Ø 适用电源:220-240 VAC
1.2 技术规格与要求:
1.2.1技术规格
1m系统:
Ø 主机:1.870(高)x 0.915(长)x 0.610(宽)m
Ø X射线发射器 (50 kVp, 钨靶, 光斑直径~35μm,工作强度25kVp,0.3mA)
Ø 数码X射线相机 ( 2940 x 2304像素)
Ø 植物样品定位系统(垂直方向1m可调,水平方向38cm可调,可360度旋转)
Ø X射线防护装置 (内锁和指示灯,中/英文标签)
Ø 主控电脑:Win7 64位英文系统,1000 G数据存储,X射线系统控制及图像获取系统
Ø 图形图像分析电脑:Linux Mint 64位操作系统,32G内存,图像处理系统
Ø 速度:平面图≥20株/h;立体图≥15株/h
Ø 测量范围:ZD根长≤1.0 m;ZD植物高度≤2.0m
Ø “R”型固定架,45x200x1000 mm培养盆和相应培养介质
Ø “Q”型固定架,45x200x500 mm培养盆和相应培养介质
0.5m系统:
Ø 主机: 1.829(高)x 0.915(长)x 0.610(宽)m
Ø X射线发射器 (50 kVp, 钨靶, 光斑直径~35μm,工作强度25kVp,0.3mA)
Ø 数码X射线相机 ( 2940 x 2304像素)
Ø 植物样品定位系统(垂直方向0.5m可调,水平方向38cm可调,可360度旋转)
Ø X射线防护装置 (内锁和指示灯,中/英文标签)
Ø 主控电脑:Win7 64位英文系统,1000 G数据存储,X射线系统控制及图像获取系统
Ø 图形图像分析电脑:Linux Mint 64位操作系统,32G内存,图像处理系统
Ø 速度:平面图≥20株/h;立体图≥15株/h
Ø 测量范围:ZD根长≤0.5 m;ZD植物高度≤2.0m
Ø “Q”型固定架45x200x500 mm培养盆和相应培养介质
1.3 可获取参数
1.3.1 使用ImageJ协助处理图片得到 植物根长、根夹角和根系空间分布图(相对于中心轴)。
1.3.2 Rhizo Traits根系分析软件(选配)
Ø 总根长、总投影面积和总体积;
Ø 可获取5种以上不同等级根系分布图片以及不同等级根系的根长和投影面积;
Ø 不同深度根系分布的位置;
Ø 不同深度根系的直径;
Ø 不同深度根系分布的密度。
产地:美国 Phenotype Screening 公司
选购指南:系统
功能
1m系统
测量范围:ZD根长≤1.0 m;ZD植物高度≤2.0m
推荐
0.5m系统
测量范围:ZD根长≤0.5 m;ZD植物高度≤2.0m
可选
防护箱
带安防开关,安全防护
必选
培养系统
“R”型固定架,45x200x1000 mm培养盆和相应培养介质(仅适用于1m系统)
“Q”型固定架,45x200x500 mm培养盆和相应培养介质
推荐
可选
水肥系统
恒温,定时灌溉
可选