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全自动多功能扫描探针显微镜/AFM

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详细介绍

技术参数:
测量模式: STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀)
扫描方式:样品扫描
测量头部:AFM和SPM(全内置自动切换),可选配液相模式和纳米压痕测量头
最大样品尺寸:直径20mm,厚度10mm
XY样品定位装置:移动范围5×5um,软件控制电动定位
XY样品定位装置最小步进:0.3um
扫描范围:100×100×10um(三维全量程闭环控制扫描器),3×3×2um(低电流模式扫描器)
XY方向非线性度:≤0.1%(闭环控制扫描器)
Z方向噪音水平(带宽10~1000Hz时的RMS值):闭环控制扫描器(典型值0.03nm,最大0.04nm),低电流模式扫描器(0.02nm)
激光光路系统:电动调节,全自动准直
视频显微系统:软件控制电动变焦和连续变倍,软件控制变换视野,分辨率2um
样品温度控制:室温~150℃

主要特点:

全自动化桌面型SPM
直观易用的软件界面
全自动切换AFM和STM扫描头
自动调整激光光路(悬臂激光四象限光电探测器)
软件控制的电动样品定位平台
视频显微镜系统软件控制电动聚焦和变倍
视频显微镜系统软件控制定位样品观察视野
电动开关样品室门
切换不同的测量模式,软件自动调节zuiyou参数
人体工程学设计

技术资料
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