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探测器
- 品牌:美国Instec
- 型号: XR-100SDD
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 北京美嘉图科技有限公司
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企业性质
入驻年限第3年
营业执照
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- 详细介绍
仪器简介:
XR-100SDD 硅漂移探测器(SDD)是Amptek 公司X 光探测器系列的zuixin成员,是一代革命性的产品。它 性能高、尺寸小、低成本,使它成为OEM 制造商的理想选择,用于生产从手持式到台式分析仪器。硅漂 移探测器(SDD)实现了极高计数率下优异的能量分辨率。同其它Amptek 公司生产的探测器一样,它被封 装在TO-8 外壳内,所以它的波形因数可直接转换为现有系统所用,兼容Amptek 公司生产的所有配件。
规格:Detector Type Silicon Drift Detector (SDD) Detector Size 25 mm2 Silicon Thickness 500 m, See efficiency curves Collimator Multilayer, click here for more information Energy Resolution @ 5.9 keV (55Fe) 125 - 140 eV FWHM at 11.2 peaking time Peak to Background 8200:1 (ratio of counts from 5.9 keV to 2 keV) Background Counts <3 x 10-3/s, 2 keV to 150 keV Detector Be Window Thickness 0.5 mil (12.5 m), See transmission curves Collimator Internal MultiLayer Collimator (ML). Click here for more information. Charge Sensitive Preamplifier Amptek custom reset preamplifier. Gain Stability <20 ppm/°C (typical) XR100SDD Case Size 3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm) Click here for mechanical dimensions XR100SDD Weight 4.4 ounces (125 g) Total Power <1 Watt Warranty Period 1 Year Typical Device Lifetime 5 to 10 years, depending on use Operation conditions 0°C to +50°C Storage and Shipping Long term storage: 10+ years in dry environment
Typical Storage and Shipping: -20°C to +50°C, 10 to 90% humidity non condensing
主要特点:高计数率:500,000 CPS
在 5.9 keV 峰处分辨率可达136 eV 半峰宽
(FWHM)
高峰强:背噪 (P/B) 比:7000:1
7 mm2 × 450 μm
无需液氮