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热成像仪PCE-PI系列

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详细介绍

简介

PCE-PI系列适用于工业物体,根据物体的红外线放射能计算其表面温度。

在使用时方便携带,可用二维检测器(焦平面阵列),对某一区域进行测量,利用标准化的调色板将其显示为热图像,使用用户通过PI连接,可以轻松处理图像数据,对图像进行进一步分析。探测器为非制冷焦平面( 25 ×25微米);

参数

光谱范围为:7.5 ... 13微米;

温度范围为:-20 ... +100°C , 0 ... +250 °C , 150 ... +900 °C

精度    ±2°C或±2 %





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