IPM 测试系统

该系统是测试IPM的测试设备，输出电压3000v.电流3000A,

系统通过外接数字温度计来观察vf的特征在通过标准温度和测量温度下的温度特征。

电压

电流

标配

选配

标配

选配

1200V

1000V

200A

200A

2200V

400A

3300V

600A

4500V

1000A

6000V

2000A

配置/短路测试

电压

电流

短路测试

标配

选配

标配

选配

项目

范围

误差

分辨率

1200V

2200V

200A

400A

VPN

100V～1200V

±3%

10V

3300V

600A

测试电流

10A～75A

±3%

1A

4500V

1000A

短路电流

100A～500A

±3%

1A

6000V

2000A

短路时间

1 uS～10uS

可调

可调

测试功能

测试范围

测试参数

IPM

BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID,

UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF),

ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN,

OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS

IGBT

ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT)

DIODE

VF-Temp, Temp, VF revision

开关时间定义

开关时间定义示图

测试条件：

VPN=600V,

VD=VBS=15V

IC=50A,

VIN=0↔5V，

开关损耗定义：

Eon：tc(on)时间段内Vce*Ic的积分，

Eoff：tc(off)时间段内Vce*Ic的积分。

测试原理图

开关打到A点时测试下桥开关参数，打到B点时测试上桥开关参数；

静态参数

动态参数

上桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-H)

上

桥

开

关

参

数

集电极电压Vce：

100～1200V，

误差±3%,分辨率10V

上桥IGBT/FRD耐压测试(Bvce-H)

上桥驱动IC低端静态电流测试(IDH)

集电极电流Ice：

10～75A，

误差±3%,分辨率1A

上桥驱动IC高端静态工作电流测试

（Iqbs-U,V,W）

VD=VBS=15V,           

误差±3%,分辨率0.1V

上桥欠压保护监测电平 （UVbsd-U V W）

VIN=0～5V             

误差±3%,分辨率0.1V   

上桥欠压保护复位电平（UVbsr-U V W）

ton-L : 10～500nS,    

误差±3%,分辨率1nS

上桥驱动IC导通阈值电压测试

（Vth（on）-UH VH WH）

tc（on）-L :5～200ｎS,

误差±3%,分辨率1nS    

toff-L: 50～500ｎS,   

误差±3%,分辨率1nS

上桥驱动IC关断阈值电压测试

（Vth（off）-UH VH WH）

tc(off)-L: 5～200ｎS,

误差±3%,分辨率1nS     

Trr-L :10～500ｎS,    

误差±3%,分辨率1nS

上桥IGBT饱和电压测试（Vce(sat)-UH VH WH）

Eon-L :0.1～10ｍＪ,   

误差±3%,分辨率0.1mJ  

上桥FRD正向压降测试（VF-(UH VH WH)

Eoff-L： 0.1～10ｍＪ  

误差±3%,分辨率0.1mJ

下桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-L)

下

桥

开

关

参

数

集电极电压Vce：

100～1200V，

误差±3%,分辨率10V

下桥驱动IC静态工作电流测试（IDL）

故障输出电压测试（Vfoh Vfol）

集电极电流Ice：

10～75A，

误差±3%,分辨率1A