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日本岩崎 替代品 易恩晶体管特性曲线图示仪

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详细介绍

日本岩崎 替代品 易恩晶体管特性曲线图示仪

EN-2005C 功率器件综合测试系统

系统概述

西安易恩电气 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,本系统可自动生成功率器件的I-V曲线,也可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究,是一款高效多功能的高端半导体测试设备。

本系统使用方便,只需要通过USB或者RS232与电脑连接,通过电脑中友好的人机界面操作,即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能,门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。

系统软件支持

器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上USB接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成,具有全屏显示和增强型编辑帮助。

    一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下,输入所选器件系列名称和测试类型,并选择所需测试的参数,而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间,非常快捷方便。

概述

EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制,达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下,这些源与条件负载按照条件准确的连接,其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。

测试系统特点
    IV曲线显示/局部放大                       
    程序保护电流/电压,以防损坏         

品种繁多的曲线
可编程的数据点对应                    

增加线性或对数
可编程延迟时间可减少器件发热           

保存和重新导入入口程序
保存和导入之前捕获图象                 

曲线数据直接导入到EXCEL
曲线程序和数据自动存入EXCEL            

程序保护电流/电压,以防损坏

测试范围广(19总大类,27分类)

系统规格及技术指标                                                          

主极电压:     1mV-2000V

电压分辨率:   1mV

主极电流:     0.1nA-50A

扩展电流:     100A

电流分辨率:   0.1nA

测试精度:     0.2%+2LSB

测试速度:     0.5mS/参数

工作温度:     25--40

    工作湿度:     45%--80%

    贮存湿度:     10%--90%

    工作电压:     200v--240v

    电源频率:     47HZ--63HZ

    通信接口:     RS232 USB

    系统功耗:     <150w

设备尺寸:     450mm×570mm×280mm

质    量:     35KG

 

测试范围


测试范围 / 测试参数




序号

测试器件

测试参数


01

二极管

DIODE

IR;BVR ;VF


02

晶体管

(NPN型/PNP型)

ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;

BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF


03

J型场效应管

J-FET

IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;

IDSS;GFS;VGSOFF


04

MOS场效应管 

MOS-FET

IDSS;IDSV;IGSSF;  IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;

VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS


05

双向可控硅

TRIAC

VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-


06

可控硅

SCR

IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;

IGT;VGT;IL;IH


07

绝缘栅双极大功率晶体管

IGBT

ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;

VGEON;VF;GFS


08

硅触发可控硅

STS

IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;

 VPK-;VGSW+;VGSW-


09

达林顿阵列

DARLINTON

ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;

BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ;

VCESAT; VBESAT;VBEON


10

光电耦合

OPTO-COUPLER

ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;

CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)


11

继电器

RELAY

RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME


12

稳压、齐纳二极管

ZENER

IR;BVZ;VF;ZZ


13

三端稳压器

REGULATOR

Vout;Iin;


14

光电开关

OPTO-SWITCH

ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF


15

光电逻辑

OPTO-LOGIC

IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF


16

金属氧化物压变电阻

MOV

ID+ ID-;VN+;  VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ;


17

固态过压保护器

SSOVP

ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、

IH-;;IBO+ IBO-;VBO+  VBO-;VZ+  VZ-


18

压变电阻

VARISTOR

ID+;  ID-;VC+   ;VC-


19

双向触发二极管

DIAC

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,


产品优势
西安易恩电气 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,本系统可自动生成功率器件的I-V曲线,也可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究,是一款GX多功能的高端半导体测试设备。
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