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Neta JAX-M1

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详细介绍


声波(超声波)已经作为一种常见无损检测手段,在工业或医疗领域的宏观范围内的测试得到广泛应用。另一方面,我们每天使用的电子器件装置越来越集成和复杂,尺寸越来越小。传统的表征测试手段越来越具有局限性,在纳米尺度范围内需要新的测量装置进行材料的表征测试;

JAX采用zuixin一代的泵浦探测pump-probe技术即异步光学采样技术(ASynchronous OPtical Samp领 Imagery SystemASOPS). 此技术源于光学外差法采样技术,是波尔多大学和法国CNRS共同合作开发的技术,Neta的产品来源于此项技术。这种ZG授权的zui*技术 可在在纳米尺度上表征材料,而不接触破坏样品。Neta使用这项技术,采用zuixin的工业设计,具有yi流的性能,高可靠性和可维护性。我们的研发团队进行了专业的工业化设计,使得Neta成为一种易于使用和即插即用的产品,可以像普通显微镜一样,非专业人士即可操作。

l  市场上**即时可用ASOPS 系统

l  一键采集测量;

l  具有Mapping成像能力;

l  非破坏/无接触探测

l  高分辨率和高精度

l  基于新一代脉冲光纤激光器 

JAX 系统采用单路或双路的泵浦/探测模式的飞秒激光器,重复频域在数百兆赫兹(如下图)。它被称为外差法技术,具有高稳定性和高精度等优点,允许用户一键采集一个测量点的所有参数,比传统技术快10 000100 000倍。频移允许通过一个双光源即时扫描并在数个毫秒内获得样品信息,探测时间分辨率小于1ps,这就是异步光学采样技术。一旦样品上单点精确测量结束,用户可以移动样品并开始扫描整个表面,以便创建所研究参数的Mapping成像。


产品优势
基于zuixin的飞秒激光ASOPS异步光学采样技术,JAX-M1可以进行高速测试,在合理的测试时间内对器件的成像测试,代替传统的分散多点测试和估算。JAX通过泵浦-探测方法,进行粘结附着力测试、薄膜厚度测试、纳米级热导率测试、机械特性测试(泊松系数,杨氏模量等)以及皮秒声学的薄膜特性成像。无论是机械工程、材料科学,还是生物纳米技术的研究人员,如果想确定薄膜材料和小聚集体的力学性能等参数,那么可以考虑JAX这款定性、定量、无损的检测设备。JAX也适用于有机半导体或光伏器件领域的研发,能快速、准确地获得产品质量和可靠性分析的结果。
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