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扫描光电流成像系统XperRam Photocurrent

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详细介绍


光电流成像系统Photocurrent Mapping System又叫扫描光电流显微镜Scanning PhotoCurrent Microscopy,是一种用于检测材料光电流强度分布的专用设备。

XperRam Photocurrent光电流成像系统标配40X物镜的情况下可实现大范围(200μm*200μm),高精度(步进0.1μm)的光电流成像(Photocurrent Mapping)。其工作原理如下图所示。激光通过扫描振镜,经显微镜物镜聚焦到样品上,样品上因光电效应产生电流,电流信号读出后传至电脑。扫描时,振镜控制激光聚焦光斑在样品XY方向上扫描移动,软件记录每一个激光聚焦光斑的位置和其对应激发的电流值,即可实现光电流成像(Photocurrent Mapping) 

该设备还可以搭配光谱仪和CCD,测量拉曼光谱成像和荧光光谱成像。


系统特点

 

>>多用测量模式

一台设备即可实现拉曼成像,荧光成像,光电流成像等多种功能,

 

>>快速大面积扫描成像

通过振镜调节激光聚焦光斑的位置完成扫描成像,扫描过程中样品台台保持不动,扫描速度快,扫描精度高,扫描范围大

 

>>多种样品台可选,可定制

样品台可根据客户需求选配探针台,低温恒温器,高温热台等,还可以根据客户现有探针台定制产品



系统参数 



激光器


可选配1-3个激光器,输出功率可调

波长

405nm-1550nm,其他波长可定制

可选配1个光纤连接端口接入外部光源

可选配超连续谱白光激光器




扫描模组

分辨率

<0.02μm

重复精度

<0.1μm

扫描范围

200μm X 200μm

扫描速度

>100谱/秒


显微镜

正置显微镜

手动载物台,可选配电动载物台

40X物镜,可选配其他倍率物镜,长焦物镜等

反射式LED照明,可选配透射式照明




应用领域 


>>材料分析

石墨烯,二维材料,结晶度分析等

>>电气工程与电子工程

晶圆分析,太阳能,半导体等 




产品优势
光电流成像系统Photocurrent Mapping System又叫扫描光电流显微镜Scanning PhotoCurrent Microscopy,是一种用于检测材料光电流强度分布的专用设备。
XperRam Photocurrent光电流成像系统标配40X物镜的情况下可实现大范围(200μm*200μm),高精度(步进0.1μm)的光电流成像(Photocurrent Mapping)。其工作原理如下图所示。激光通过扫描振镜,经显微镜物镜聚焦到样品上,样品上因光电效应产生电流,电流信号读出后传至电脑。扫描时,振镜控制激光聚焦光斑在样品XY方向上扫描移动,软件记录每一个激光聚焦光斑的位置和其对应激发的电流值,即可实现光电流成像(Photocurrent Mapping)
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