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半导体参数分析仪

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详细介绍

测试系统特点

IV曲线显示/局部放大程序保护电流/电压,以防损坏品种繁多的曲线可编程的数据点对应增加线性或对数可编程延迟时间可减少器件发热保存和重新导入入口程序保存和导入之前捕获图象曲线数据直接导入到EXCEL曲线程序和数据自动存入EXCEL程序保护电流/电压,以防损坏测试范围广(19总大类,27分类)

系统规格及技术指标                                                          

主极电压:     1mV-2000V

电压分辨率:   1mV

主极电流:     0.1nA-50A

扩展电流:     100A

电流分辨率:   0.1nA

测试精度:     0.2%+2LSB

测试速度:     0.5mS/参数

工作温度:     25--40

工作湿度:     45%--80%

贮存湿度:     10%--90%

工作电压:     200v--240v

电源频率:     47HZ--63HZ

通信接口:     RS232 USB

系统功耗:     <150w

设备尺寸:     450mm×570mm×280mm

质    量:     35KG


产品优势
IV曲线显示/局部放大,程序保护电流/电压,以防损坏,品种繁多的曲线,可编程的数据点对应,增加线性或对数,可编程延迟时间可减少器件发热
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