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USPM-RU-W近红外显微分光测定仪
- 品牌：日本奥林巴斯
- 型号： USPM-RU-W
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
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上海西努光学科技有限公司
更新时间：2022-05-27 16:26:31 -
企业性质授权代理商
入驻年限第3年
营业执照已审核
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- 标签： 红外显微分光测定仪 测定仪
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- 详细介绍
奥林巴斯的USPM-RU-W近红外显微分光测定仪可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此最适用于光学元件与微小的电子部件等产品。
实的测定功能
使用一台即可进行反射率、膜厚、物体颜色、透过率、入射角45度反射率的各种分光测定。◆测定反射率
测定以物镜聚光φ17～70μm的微小点的反射率。
◆测定膜厚
活用反射率数据，测定约50nm～约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。
◆测定物体颜色
根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b色度图及相关数值。
◆测定透过率
从受台下部透过φ2mm的平行光，测定平面样品的透过率。（选配）
◆测定入射角为45度的反射率
从侧面向45度面反射φ2mm的平行光，测定其反射率。（选配）
域的高精度&高速测定◆实现高速测定
使用平面光栅及线传感器进行全波长同时分光测定，从而实现高速测定。
◆最适用于测定细小部件、镜片的反射率
新设计了可以在φ17~70μm的测定区域中进行非接触测定的专用物镜。通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或镜片等的曲面，也可以实现再现性很高的测定。
◆测定反射率时，不需要背面防反射处理
将专用物镜与环形照明组合，不需要进行被检测物背面的防反射处理，就可测定最薄0.2mm的反射率*。
◆可选择的膜厚测定方法
根据测定的分光反射率数据进行单层膜或多层膜的膜厚解析。可以根据用途选择**的测定方法。技术规格：
近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W：规格 反射率测定 透过率测定*1 45度反射测定*1 名称 近红外显微分光测定仪 近红外显微分光测定仪用
透过测定选配件近红外显微分光测定仪用
45度反射测定选配件型号 USPM-RU-W 测定波长 380～1050nm 测定方法 对参照样品的比较测定 对100%基准的透过率测定 对参照样品的比较测定 测定范围 参照下列对物镜的规格 约ø2.0mm 测定
再现性（3σ）*2反射率测定 使用10×、20×物镜时 ±0.02[%]以下（430-1010nm）、
±0.2[%]以下（上述以外）±1.25[%]以下（430-1010nm）、
±5.0[%]以下（左侧记载除外）使用40×物镜时 ±0.05[%]以下（430-950nm）、
±0.5[%]以下（上述以外）厚膜测定 ±1% - 波长显示分解能 1nm 照明附件 专用卤素灯光源 JC12V 55W（平均寿命700h） 位移受台 承载面尺寸：200(W)×200(D)mm
承重：3 kg
工作范围：(XY) ±40mm, (Z)125mm倾斜受台 － 承载面尺寸： 140(W)×140(D)mm
承重： 1 kg
工作范围：(XT) ±1°, (YT) ±1°装置质量 主体：约26 kg（PC除外） 主体：约31 kg（PC除外）*3 控制电源箱：约6.7kg 装置尺寸 主体部位：360(W)×446(D)×606(H)mm 主体部位：360(W)×631(D)×606(H)mm 控制电源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm 电源规格 输入规格：100-240V (110VA) 50/60Hz 使用环境 水平无振动的场所
温度：15～30℃
湿度：15～60％RH（无结露）*1 选件组件 *2 本社测定条件下的测定 *3 装配透过率测定套件与45度反射测定套件的总重量为33kg。
对物镜 型号 USPM-OBL10X USPM-OBL20X USPM-OBL40X 倍率 10x 20x 40x NA 0.12 0.24 0.24 测定范围*4 70μm 34μm 17μm 工作距离 14.3mm 4.2mm 2.2mm 样品的曲率半径 ±5mm～ ±1mm～ ±1mm～ *4 点径
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