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JMS-T200GC 气相色谱-飞行时间质谱仪

  • 品牌:日本电子
  • 型号: JMS-T200GC
  • 产地:日本
  • 供应商报价: 面议
  • 第4代AccuTOF GC 系列产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx! 将在更广泛的领域为您提供分析解决方案。[查看全部]
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捷欧路(北京)科贸有限公司

主营产品:透射电子显微镜,扫描电子显微镜,球差电子显微镜,台式扫描电镜,电子探针显微分析仪

详细介绍


  • 第4代AccuTOF GC 系列产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx! 是能够同时实现高分辨率, 高质量精度和高速数据采集的新一代飞行时间质谱仪 (Time-of-Flight Mass Spectrometer; TOFMS),将在更广泛的领域为您提供分析解决方案。

  • 第4代AccuTOF GC 系列产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx! 是能够同时实现高分辨率, 高质量精度和高速数据采集的新一代飞行时间质谱仪 (Time-of-Flight Mass Spectrometer; TOFMS),将在更广泛的领域为您提供分析解决方案。

  • ◇  通过高精度的精确质量测试推测元素的组成


  • AccuTOF GCx 能长时间且稳定地进行高灵敏度, 高分辨率, 高质量准确度的测试。此外, AccuTOF GCX 作为GC-HR TOFMS具有最高数量级的动态范围, 在同一谱图内不管是测试基峰还是小峰, 质量准确度都非常高, 因此能准确地推测分子离子和碎片离子的元素组成, 基于宽动态范围还能容易地对不同浓度的混合样品进行GC/MS 测试。


  • ◇  高分辨率




  • 高质量准确度(不同浓度下的同一个离子峰)



  • 八氟萘


  • 长时间的稳定性


  •  

  • ◇  高灵敏度




  • 连续测试八次100fg 八氟萘(OFN) 后, 由EIC中的积分面积标准偏差计算出仪器的检出限(IDL)为16fg。
    CV :相对标准偏差  IDL :仪器检出限

  • ◇  宽质量范围


  • 用Direct TOFMS也能测试低聚物

  • AccuTOF GCx 不仅具有宽质量范围, 还有多种直接进样系统, 可以测试GC无法进样测试的大分子量样品。



  • 聚苯乙烯5200 的FD 质谱图

  • ◇  多种电离方法和进样技术


  • FI 法和FD 法 最适合于确认分子量的软电离方式

  • FI / FD 法与EI 法或CI 法相比, 是分子离子内部能量较小的电离方法, 由于这种软电离方式不容易引起碎片化, 因此最适合于确认分子量。


  • FI(Field Ionization :场电离)法


    • 通过GC 或标准样品进样口能将样品导入离子源。CI 源需要依据待测对象化合物选择试剂气体种类, 但FI 源不需要。

  •  

   

  • 软电离技术也可以适用于难挥发性样品,对容易碎片化的含氟化合物也检测出了分子离子。


  • FD(Field Desorption :场解吸)法

    • 将样品直接涂在发射体上。

    • 很适合分析热不稳定化合物。

    • 很适合于可溶于非极性溶剂的样品

    • 能测试可以分散在溶剂中的粉末样品

    • 能测试低~中极性的金属络合物。

    • 能分析一般GC/MS 无法测试的样品, 如聚合物, 高分子材料等。





  • 对难挥发性的离子液体也能迅速获得分子量信息。


  • ◇ EI/FI/FD 复合离子源(选配件)


  • 同一个离子源可以使用EI 法(硬电离方式)和 FI/FD 法(软电离方式)。可简单迅速地切换EI 和 FI/FD电离方式。




  • 直接进样方式(选配件)

  • 根据用途备有两种直接进样杆,电离方法可以选择EI 和CI。


  • DEP (Direct Exposure Probe) : 最适合高沸点化合物 / 热不稳定化合物, 将溶在溶剂中的样品涂在灯丝尖端。




  • DIP (Direct Insertion Probe):  最适合于高沸点化合物及不溶于溶剂的样品,固体样品可以直接放入专用的玻璃样品管




  • EI 和FI 结合的定性分析

  • 对EI的质谱图可用谱库检索,根据碎片离子的成份推断可获得结构信息。另一方面根据FI检测出的分子离子能推断出分子量和元素成份。通过综合来自EI和FI的信息,就可以进行高度准确的定性分析而不必单纯地依赖谱库检索,这种组合技术对于杂质等未知成分的定性分析非常有效。




产品优势

第4代AccuTOF GC 系列产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx! 将在更广泛的领域为您提供分析解决方案。

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