P-7 Stylus Profiler

P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。

产品描述

P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。

主要功能

·       台阶高度：几纳米至1000μm

·       微力恒力控制：0.03至50mg

·       样品全直径扫描，无需图像拼接

·       视频：500万像素高分辨率彩色摄像机

·       圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差

·       软件：简单易用的软件界面

·       生产能力：通过测序，模式识别和SECS / GEM实现全自动化

主要应用

·       台阶高度：2D和3D台阶高度

·       纹理：2D和3D粗糙度和波纹度

·       形状：2D和3D翘曲和形状

·       应力：2D和3D薄膜应力

·       缺陷复检：2D和3D缺陷表面形貌

工业应用

·       大学、研究实验室和研究所

·       半导体和化合物半导体

·       LED：发光二极管

·       太阳能

·       MEMS：微机电系统

·       数据存储

·       汽车

·       医疗设备

·       还有更多：请与我们联系以满足您的要求