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UV-B

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详细介绍


紫外辐照计UV-B采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

 

产品特点

1.光谱及角度特性经严格校正

2.数字液晶显示,带背光
3.手动/自动量程切换
4.数字输出接口(USB,冗余供电)
5.低电量提醒
6.自动延时关机
7.有数字保持
8.轻触按键操作,蜂鸣提示

9.测量范围:(0.1~199.9×103)μW/cm2

10.使用环境:温度(0~40)℃;湿度<85%RH

 

技术指标:

项目

参数

波长范围λ1,峰值波长λp

(230~275)nm,λP=254nm

辐照度测量范围

(0.1~199.9×103)μW/cm2

紫外带外区杂光

UV254<0.1%,UV297<0.05%

相对示值误差

±8%(相对于NIM标准)

角度响应特性

±5%(α≤10°)

线性误差

±1%

换档误差

±1%

短期不稳定性

±1%(开机30min后)

疲劳特性

衰减量<2%

零值误差

满量程的±1%

响应时间

<1秒

使用环境

温度(0~40)℃;湿度<85%RH

尺寸和重量

160mm×78mm×43mm;0.2kg

电源

6F22型9V积层电池(非充电电池)

整机功耗

<0.1VA


产品优势
紫外辐照计UV-B
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