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超快自相关仪
- 品牌:美国Edmund Optics
- 型号: Edmund #11-760
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 青岛森泉光电有限公司 更新时间:2024-04-22 09:08:06
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- 详细介绍
适合超快激光脉冲的表征
内置 TPA 探测器 700-1100nm 下的灵敏度 >0.1W2
紧凑型设计且带有SCPI 接口软件
适用于高低重复率的超快激光器
超快自相关仪用于表征由 Ti:sapphire 和 Yb:doped 光纤激光器产生的超快激光脉冲。这些自相关器采用内置双光子吸收 (TPA) 探测器,适合测量 700 到 1100nm 波长下的超快飞秒和皮秒级激光脉冲。高度灵敏的 TPA 检测器可测量要求灵敏度在毫瓦范围内的超快激光脉冲。这些超快自相关仪采用紧凑的外形设计,可以安装在可调节光学安装座上,以便轻松整合到任何超快光学环境中。每个自动相关仪都随附一个内置 TPA 探测器,一个 USB 接口的控制器、可随时使用的数据采集软件,以及基于 TCP/IP 的软件,该软件带有 SCPI 标准组件的子集,允许用户编写自动测量程序。
波长范围 (nm):700 - 1100计算机接口 :USBDimensions (cm):10.2 x 10.2Measurable Pulse Duration:50 - 3500fsScan Range:150fs - 15psSensitivity (W2):<0.1Repetition Rate (Hz):>300Maximum Input Power/Energy:300mW/5µJInput Beam Polarization:Linear/HorizontalDelay Resolution:<0.001 % of Scan RangeDelay Linearity:<1%Measurement Mode:Collinear IntensitySHG Phase Matching:Not RequiredTrigger Mode:300Hz - 50kHz输入孔径(mm):6Fitting Routine:Gaussian, Sech2, LorentzCalibration:Certified NIST Traceable Calibration- 产品优势
- 适合超快激光脉冲的表征
内置 TPA 探测器 700-1100nm 下的灵敏度 >0.1W2
紧凑型设计且带有SCPI 接口软件
适用于高低重复率的超快激光器
超快自相关仪用于表征由 Ti:sapphire 和 Yb:doped 光纤激光器产生的超快激光脉冲。这些自相关器采用内置双光子吸收 (TPA) 探测器,适合测量 700 到 1100nm 波长下的超快飞秒和皮秒级激光脉冲。高度灵敏的 TPA 检测器可测量要求灵敏度在毫瓦范围内的超快激光脉冲。这些超快自相关仪采用紧凑的外形设计,可以安装在可调节光学安装座上,以便轻松整合到任何超快光学环境中。每个自动相关仪都随附一个内置 TPA 探测器,一个 USB 接口的控制器、可随时使用的数据采集软件,以及基于 TCP/IP 的软件,该软件带有 SCPI 标准组件的子集,允许用户编写自动测量程序。