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球面光学元件显微检测仪Sphere-3000

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详细介绍

Sphere-3000-Ⅱ 球面光学元件反射率测量仪.png

Sphere-3000光学元件反射率测量仪
仪器能快速准确地测量各类球面/非球面光学器件的相对反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量,还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
特点:


  • 显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)


  • CIE颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等


  • 检测速度快 高性能探测器,能在几秒内实现重现性高的测定


  • 消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率



技术参数

型号 Sphere-3000(II型) Sphere-3000(III型) Sphere-3000(NIR)
检测范围 380~1100nm 380~1000nm900~1700nm
波长分辨率 1nm 1nm3nm
相对检测误差 0.75%0.5% 0.5%
测定方法 与标准物比较测定
被测物再现性 ±0.1%以下
(380nm~410nm)
±0.05%以下
(410nm~900nm)
±0.1%以下
(380nm~400nm)
±0.05%以下
(400nm~900nm)
±0.1%以下
 (1000nm~1600nm)
单次测量时间<1S
精度 0.3nm
被测物N.A. 0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
被测物尺寸 直径>1mm
厚度>1mm(使用10×对物镜时)

厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)

厚度>0.1mm(使用50×对物镜时)

被测物
测定范围

约φ100μm(使用10×对物镜时)

约φ60μm(使用20×对物镜时)

约φ30μm(使用50×对物镜时)

设备重量 约22kg(光源内置)
设备尺寸 300(W)×550(D)×570(H)mm
使用环境 水平且无振动的场所
温度:23±5℃;湿度:60%以下、无结露,
操作系统Windows7~Windows10
软件 分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定


产品优势
显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)

CIE颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等

检测速度快 高性能探测器,能在几秒内实现重现性高的测定

消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率
技术资料
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