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球面光学元件显微检测仪Sphere-3000
- 品牌:广州标旗
- 型号: Sphere-3000
- 产地:广州
- 供应商报价: 面议
- 广州标旗光电科技发展股份有限公司 更新时间:2022-01-07 14:45:43
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企业性质生产商
入驻年限第5年
营业执照已审核
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Sphere-3000光学元件反射率测量仪
仪器能快速准确地测量各类球面/非球面光学器件的相对反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量,还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
特点:显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)
CIE颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等
检测速度快 高性能探测器,能在几秒内实现重现性高的测定
消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率
技术参数
型号 Sphere-3000(II型) Sphere-3000(III型) Sphere-3000(NIR) 检测范围 380~1100nm 380~1000nm 900~1700nm 波长分辨率 1nm 1nm 3nm 相对检测误差 0.75% 0.5% 0.5% 测定方法 与标准物比较测定 被测物再现性 ±0.1%以下
(380nm~410nm)
±0.05%以下
(410nm~900nm)±0.1%以下
(380nm~400nm)
±0.05%以下
(400nm~900nm)±0.1%以下
(1000nm~1600nm)单次测量时间 <1S 精度 0.3nm 被测物N.A. 0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)被测物尺寸 直径>1mm
厚度>1mm(使用10×对物镜时)厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)
厚度>0.1mm(使用50×对物镜时)
被测物
测定范围约φ100μm(使用10×对物镜时)
约φ60μm(使用20×对物镜时)
约φ30μm(使用50×对物镜时)
设备重量 约22kg(光源内置) 设备尺寸 300(W)×550(D)×570(H)mm 使用环境 水平且无振动的场所
温度:23±5℃;湿度:60%以下、无结露,操作系统 Windows7~Windows10 软件 分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定 - 产品优势
- 显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)
CIE颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等
检测速度快 高性能探测器,能在几秒内实现重现性高的测定
消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率 - 技术资料
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