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Phasics SID4-HR高分辨波前传感器

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详细介绍


Phasics SID4-HR高分辨波前传感器

基于Phasics四波横向剪切干涉ZG技术,SID4-HR波前分析仪提供了一个非常高的相位和强度高分辨率(400x300测量点)图。由于它测量发散光束不需要中继镜头,简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途:等离子体密度测量,相位成像显微…

          

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  SID4-HR                                   光学器件测量                       自适应光学

特点:

由于其独特的ZG技术技术,PhasicsSID4-HR波前传感器具备以下特点:

1.超高分辨率:400x300相位图

2.直接测量发散和准直光束

3.4001100nm消色差

4.自校准:振动不敏感和容易对齐

5.紧凑,体积小

 

应用:

由于其分辨率高,SID4-HR波前传感器提供新的可能性应用:

激光:光束诊断、自适应光学和等离子体表征

光学:精密透镜测试和表面测量

生物学:定量相位显微术

 

SID4-HR产品参数:

波长范围

400 - 1100 nm

通光孔径

8.9 x 11.8 mm2

空间分辨率

29.6 µm

采样点(相位/强度)

300 x 400 (> 120 000 points)

相位相对灵敏度

< 2 nm RMS

相位精度

15 nm RMS

动态范围

> 500 µm

采样频率

> 10 fps

实时分析频率

> 3 fps (full resolution)

数据接口

Giga Ethernet

尺寸(w x h x l)

54 x 46 x 79 mm

重量

~250 g



产品优势
基于Phasics四波横向剪切干涉ZL技术,SID4-HR波前分析仪提供了一个非常高的相位和强度高分辨率(400x300测量点)图。由于它测量发散光束不需要中继镜头,简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途:等离子体密度测量,相位成像显微…
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