碳纳米管和石墨烯性能表征系统

随着纳米技术的不断发展，碳纳米管和石墨烯的性能越来越受到科学家的关注。然而，对于碳纳米管和石墨烯性能表征一直是困扰碳纳米管和石墨烯技术研究和应该的主要障碍。目前，碳纳米管和石墨烯测量方法是光谱测量技术。相对其他测量方法，该技术主要有以下的优点： 
      1、较高灵敏度，即使碳纳米管和石墨烯的含量很低也能精确测量。
      2、较高测量精度，对碳纳米管的（nm）分辨率很高。
      3、对待测样品要求低，可直接分析含较多杂质的样品。
      4、测量设备相对简单，准备待测样品非常容易。
      5、数据处理简单，测量结果无需考虑背景减除。

     对于碳纳米管和石墨烯的表征，虽然光谱测量技术有很大的优点，但是由于没有一套系统是专门针对研究碳纳米管和石墨烯而设计的，所以测量过程还是有些问题，如获取数据速度太慢，测量灵敏度不是很高，手工处理数据非常繁琐且容易出错等等。著 名的碳纳米管专家美国莱斯大学的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授针对这些问题开发了碳纳米管专用的测量系统NS3。使得NS3系统成为目前上wei一的碳纳米管和石墨烯专用测量系统，可对碳纳米管和石墨烯进行吸收、荧光和拉曼光谱测量。
           

           Nano Spectralyzer (NS3)系统                          NS3上的测量结果：碳纳米管的近红外发射光谱