Elite一六仪器X荧光光谱分析仪

性能优势：

1.微小样品检测：最小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）

2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm

3.duchuang的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可jing准测量。   

4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。   

5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25mm²探测器。   

6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置。 

先进的EFP算法

       采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法，基于荧光X射线激发的基本原理，从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度，在基于此计算Lachance综合校正系数，然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增应。只需少数标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。

RoHS检测及标定