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二次离子质谱探针
- 品牌：Hiden Analytical
- 型号： EQS
- 产地：英国
- 供应商报价： 面议
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北京英格海德分析技术有限公司
更新时间：2021-12-23 16:54:49 -
企业性质授权代理商
入驻年限第7年
营业执照已审核
- 同类产品等离子体-材料表面(18件)
联系方式：13910904182010-52722415
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- 详细介绍
仪器简介：
EQS是差式泵式二次离子质谱（SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe），可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用zui*技术 的SIMS探针，便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。
技术参数：
应用：
静态 /动态SIMS
一般目的的表面分析
整体的前端离子源，便于RGA和 SNMS
兼容的离子枪/ FAB 枪
成分/污染物分析
深度分析
泄漏检测
与Hiden SIMS 工作站兼容
主要特点：
高灵敏度脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围
SIMS 成像，分辨率在微米以下
光栅控制，增强深度分析能力
45°静电扇形分析器, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM.
所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输
差式泵3级过滤四极杆，质量数范围至2500amu
灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器
Penning规和互锁装置可提供过压保护
通过RS232、RS485或Ethernet LAN，软件 MASsoft控制
