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美国SVT 在线阴极荧光光谱仪/In-Situ CL
- 品牌:美国SVT Associates
- 型号: SVTA-CL
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 美国SVTA公司中国办事处
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企业性质
入驻年限第9年
营业执照
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- 详细介绍
此在线CL系统是监控MBE生长过程的理想选择。
CL可以放置在独立的观察窗位置。
通过RHEED枪以及敏感的光学探测系统,CL可以实时提供材料组分的准确信息,并进行实时光学分析。
部件有8''的前后移动容域度,避免与其他部件相互干扰。
CL通过电子激发技术调节电子能量,可以检测较深的薄膜表面信息。
与其配套的Windows软件操作系统,可以实现操作自动化及图谱分析。
特点
一个端口可以同时监测薄膜成分和光学分析
掺杂水平信息
部件可前后移动,使部件间相互干扰最小化
全电脑控制及分析
光谱范围
200-900nm
分辨率
0.5nm
探测器量子效率
25%
探测器输出
10V/nW
噪音等效
<250V
观察窗口
2.75''CF
外部尺寸
9.0''X25.5''X10.1'' (22cm×65cm×26cm)
腔室内尺寸
1.25''×13.1'' (3.2cm×34cm)
行程距离
最大8''(20.3cm)
靶距离
2''(5.1cm)
电脑要求
Windows 9X,2000,XP