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SVT RHEED及图像获取系统

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反射高能电子衍射仪是MBE制程的一部分。在薄膜沉积过程中,RHEED给客户提供了重要的信息。

首先,RHEED图像表征样品表面的状态。

其次,其强度震荡可以提供生长速率的量化数据。

RHEED提供了清晰的焦点,以及衍射图样,并能够在屏幕上高亮度显示。

电子光学部件有磁性保护罩,便于提高操作性。

可选部件:RHEED图像分析硬件和软件系统,可以实时获取RHEED图样,使用户便于观察和控制薄膜生长质量。完整的RHEED系统包括 10KeV RHEED电子束源,电源及配套光缆。



技术参数:

束流电压

10KV

灯丝电流

3A

发射电流

5A

光斑大小

1.0mm (17’’/1075px距离)

最大烘烤温度

230 oC


RHEED Electron Source
2.75"和4" 法兰
RHEED Power Supply
RHEED Image Analysis Software
高分辨CCD 或相机
实时分析
2D/3D分析
RHEED Optional Components


主要特点:


实时检测外延生长

测量薄膜生长速率

单晶薄膜的生中速率测量

光学部件带有磁性罩



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