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自jasco,自动反射率测量系统ARMV734/735
- 品牌：日本分光
- 型号： ARMV734/735
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
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沈阳佳士科商贸有限公司
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企业性质
入驻年限第9年
营业执照
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- 详细介绍
概要
自动反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且，根据任意设定P偏光和S偏光角度，能研究样品的偏光特性。
可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度上，也可以选择用在适合高分辨率，高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。
◆装置特点
?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件
?测量范围广，从紫外到近红外区域
?双光束光学系统，测光稳定性好
?可分别控制入射角、受光角
?标配偏光测量功能
?专用的样品池支架，样品的装卸简单◆规格
ARMV-734/ARMN-735 自动反射率测量组件（V-600用）
型号
ARMV-734
ARMN-735
测定波长范围
250～850nm
250～2000nm
测量方式
测量反射率、测量透过率
入射角
5°～ 60°(测量反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0 ～ 85℃（大入射角样品支架、选项)
角度间隔
0.1°间隔
设定方式
同期、非同期（入射部和受光部）
测量偏光
S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意设定
※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。
VAR-7010/7020/7030 自动反射率测量组件（V-7000用）
型号
VAR-7010
VAR-7020
VAR-7030
测量波长范围
250～900nm
250～2000nm
250～1800nm
测定方式
测量反射率、测量透过率
入射角
5°～ 60°(测量反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0 ～ 85℃（大入射角样品支架、选项)
角度隔
0.1°间隔
设定方式
同期、非同期（入射部和受光部）
测量偏光
S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)
※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。
