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徕卡冷冻断裂系统 Leica EM BAF060

联系方式:徕卡显微系统400-630-7761

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详细介绍

冷冻断裂/蚀刻技术是一种TEM制样方法,对冷冻后的样品进行断裂,暴露出其内部结构,也可以对断裂面进行蚀刻,暴露出断裂面更多内部信息,在冷冻状态下进行金属/碳混合镀膜,得到一个表面结构的复型,利用TEM观察。利用冷冻断裂的一些zui*技术 ,例如冷冻复型免疫标记技术(FRIL),可以深入揭示膜蛋白在细胞活动中的作用。

Leica EM BAF060是一套高端冷冻断裂/蚀刻系统,也可以与 Leica EM VCT100冷冻传输系统配合使用,利用扫描电镜直接观察冷冻断裂/蚀刻的样品。

主要技术参数:

冷冻断裂、冷冻蚀刻、冷冻干燥、冷冻喷涂,多功能于一体

无油真空系统,低温条件下极限真空1×10-7mbar

送样口具有预抽室作为缓冲,进样无需破真空

电子束蒸发镀膜,电子枪1,2角度0-90°可调

样品台可旋转,可进行小角度旋转投影

内置石英膜厚检测器,精确控制膜厚

兼容VCT100冷冻传输系统


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