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美国菲希尔 FISCHERSCOPE® XDV-SDD

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详细介绍

特点

§ 高级型号仪器,具有常见的所有功能

§ 射线激发量的灵活性最大,激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变

§ 通过硅漂移探测器,在 > 10cps(每秒计数率)的超高信号量下也可以正常工作,而不会出现能量分辨率的降低

§ 极低的检测下限和出色的测量重复度

§ 带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量设备

§ 大容量便于操作的测量舱

典型应用领域

§ 测量极薄的镀层,例如应用于电子和半导体行业中

§ 痕量分析,例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测

§ 进行高精度的黄金和贵金属分析

§ 光伏产业

§ 测量 NiP 镀层的厚度和成分

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