inTEST 冷热冲击试验机|高低温冲击试验箱

inTEST TemptronicATS-545-M 高低温冲击测试机
上海伯东 inTEST美国进口高低温冲击测试机ZG总代理: TemptronicThermoStreamATS-545-M 款高低温冲击测试机。温度冲击范围：-80°C 至 +225°C；旋钮式控制面板，支持测试数据存储。inTESTATS-545-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04310 和 Thermonics T-2820 全新升级款！~

高低温冲击测试机应用： 协助企业完成电子元件电性能测试、可靠性测试、高低温循环测试和高低温冲击测试，例如集成电路 IC 卡温度测试、半导体芯片高低温测试、PCB 电路板高低温测试、光通讯器件高低温测试(Flash、EMMC、transciever) 等等任何您需要测试的地方！

高低温冲击测试机 TemptronicThermoStreamATS-545-M 技术参数：

inTEST 高低温冲击测试机功能特点：
自动升降温：冷冻机 (Chiller) 特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；不需要液态氮气 (LN2) 或液态二氧化碳 (LCO2) 冷却
旋钮式控制面板
温度显示精度：±1℃ (通过美国国家标准与技术研究院NIST 校准)
过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。
加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗
大气流量输出，变温速率快，节省操作时间，热流罩提供局限性的温度测试环境，特别适合温度冲击测试；ZL设计防止水气在DUT上凝结

与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTESTThermoStream高低温测试机主要优势：
1、变温速率更快
2、温控精度：±1℃
3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB 电路板上众多元器件中的某一单个 IC (模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件
5、对测试机平台 load board 上的 IC 进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。
6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。

温度冲击测试方法：
inTEST-Temptronic高低温冲击测试机提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。

inTEST高低温冲击测试机 ATS-545-M 基本参数

提供 inTEST-Temptronic ATS-545-M 机械手臂版本和 ATS-545-T 测试腔版本供您选择!

上海伯东客户 inTEST 高低温测试机光通信收发器(transciever)温度测试案例：

inTEST ThermoStream已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的SJ制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST收购，使 inTEST更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions用崭新的研发技术发展出duchuang的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTESTThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST ZG总代理，全权负责 inTEST新品销售和售后维修服务。
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