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全自动晶圆超声波缺陷检测系统
- 品牌：凯斯安KSI
- 型号： i-Wafer
- 产地：德国
- 供应商报价： 面议
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深圳市蓝星宇电子科技有限公司
更新时间：2024-04-10 09:45:03 -
企业性质生产商
入驻年限第6年
营业执照已审核
- 同类产品德国 KSI超声波扫描显微镜(9件)
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- 详细介绍
德国KSI-凯斯安i-Wafer型
全自动晶圆超声波缺陷检测系统i-Wafer系列是一款高端仪器，操作人员可选择接收/拒绝标准，手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测
新型KSI i-Wafer晶圆缺陷检测系统的主要特点：
- 扫描速度最高达2000mm/s
- 新型换能器
- 高质画面
- 同时使用1只、2只、4只换能器提高效能
- 能发现只有几微米的缺陷
- 产品优势
- 德国KSI-凯斯安 i-Wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统，i-Wafer系列是一款高端仪器，操作人员可选择接收/拒绝标准，手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测
