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双模式三维轮廓仪、台阶仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP- WLI+AFM
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 南京冉锐科技有限公司
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企业性质
入驻年限第9年
营业执照
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- 详细介绍
特点:一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜
白光干涉
白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描,对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。
?**的技术来实现高Z向分辨率
?白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。
?快速图像处理系统达到400万像素
?四色LED相机
?更大的垂直测量范围达10毫米
?150mmx150mm马达控制平台。
?样品粗糙度,粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量,如陶瓷、塑料和辊钢。
?SPIP专业数据分析软件
原子力显微镜
探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70x70um,探针更换简单。
?**的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率
?X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。
?线性XY压电陶瓷扫描
?包括振动和不振动的模式
?可选的侧向力和相位模成像