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HORIBA 防爆气体监测仪 EIA-51d/51p

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详细介绍

确保安全的技术
防爆型气体分析仪诞生

使用凝聚了HORIBA在气体分析方面成熟技术的防爆型系列气体分析仪。它可对可燃性气体,爆炸性氛围下的气体提供安全并正确的分析环境。为了进一步追求安全性,分析仪装备了考虑到良好监控性、jing准操作性的界面。同时还具备对应IEC标准和通信功能(选配功能),使长期前瞻性活用变为可能。以通用型过程用红外线气体分析仪为代表,也具备可以对应氧气、氢气的各机型,丰富的产品线可适用各类用途。一如既往地在追求安全的环境下,在气体分析领域提供优质服务。

开发理念:
*对应多种分析需求
*易于使用的用户界面
*符合IEC标准、具备通信功能


隔爆型防爆:

项目注释备注
Ex符合国际标准
d防爆结构分类d:隔爆型防爆结构
ⅡB+H2设备类型ⅡB+H2:矿井以外工厂被允许涉及ⅡB类爆炸性气体以及氧气
T4温度组别T4:最高表层温度135℃



内压型防爆:

项目注释备注
Ex符合国际标准
P防爆结构分类P:内压型防爆结构
设备类别Ⅱ:矿井以外工厂
T4温度组别T4:最高表层温度135℃
X特别使用条件


项目注释备注
Ex符合国际标准
Pxd防爆结构分类P:内压型防爆结构【PX方式】(容器)d:隔爆型防爆结构(传感器部位)
ⅡC设备类别ⅡC:矿井以外工厂被允许涉及ⅡC类爆炸性气体
T4温度组别T4:最高表层温度135℃
X特别使用条件

测定原理:

EIA-51d/51pTIA-51d/51p:非分散红外吸收法(干涉修正型)
原理图:


测定原理:
干涉修正型就是利用图示红外线气体分析仪原理,尤其是对含有大量干涉成分的样气,能够得到极其jing准的测定值的独特方式。在标准型的几本结构的基础上,干涉修正型需要在同一光学系统上并列配置上测定用检测器和修正用检测器。
通过这样可大大减轻以下影响:
①样气中其他成分造成的干涉影响
②外部的震动等产生的外部影响
③光源部分、检测池老化等造成的漂移

技术规格
型号EIA-51dEIA-51pTIA-51dTIA-51p
防爆构造防爆型防爆构造
ExdllB+H2T4
内压型防爆构造
ExpllT4X
隔爆型防爆构造
ExdllB+H2T4
内压型防爆构造
ExpllT4X
检测原理非分散红外吸收法
检测组分CO、CO2、CH4等*4
量程最小量程0-0.11vol%(因成分而不同)0-50ppm(因成分而不同)
最大量程0-100vol%(因成分而不同)0-2000ppm(因成分而不同)
可选量程100-90~50vol%(因成分而不同)0-20~50ppm未满(因成分而不同)
最大量程数
最大量程比
性能重复性标准量程零点:±0.5%F.S.
量程:±0.5%F.S.
标准量程零点:±0.5%F.S.
量程:±0.5%F.S.
标准量程零点:±0.5%F.S.
量程:±0.5%F.S.
标准量程零点:±1.0%F.S.
量程:±1.0%F.S.
线性±1.0%F.S.
漂移*1零点:±2.0%F.S./week
量程:±2.0%F.S./week
响应时间(分析仪入口开始)T90=20秒以内(可选量程:T90=40秒以内)
样气组成隔爆型防爆
构造
.氧气浓度21%以下,没有灰尘、没有湿气
.设备分类llB、对应温度组别T4的气体.蒸汽-空气混合物以及氧气-空气混合物具有同等以下危险的气体。
隔爆型防爆
构造
.氧气浓度21%以下,没有灰尘、没有湿气
.具备与温度组别T4的气体.蒸汽-空气混合物具有同等以下着火点。
压力1.98kPa以上
流量500ml/分
温度周围温度
排放点大气排放
接触样气的零部件材质SUS304、SUS315、FKM、CaF-、Au等
校正方式标准:手动校正选配:自动校正
模拟输出输出内容浓度输出:1ch
输出规格绝缘输出:DC4-20mA(DC0-16mA/0-20mA、DC0-1V/0-5V/1-5V/0-10V为选配规格)负荷电阻:750以下
模拟值警报可以在输出电流/电压跨幅的-10%到+110%范围内任意设定
接点输出输入(选配)Och
通信
(选配功能)※2
接口RS-485
通信协议Modbus-RTU
通信速度可从19200bps/9600bps/4800bps/2400bps/1200bps中选择
设置环境设置场所设置在室内
周围温度5~40摄氏度(避免阳光直射、热辐射)
相对湿度90%以下
振动避免设置在水泵、风扇等振动较大的物体附近(100Hz、0.3m/s2以下)
粉尘环境基准以下
实用载气组成:氮气、压力196~690kPa、流量:扫气时10L/分、运转时0.5L/分


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