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OptoTop® 高精度纳米级三维形貌仪

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详细介绍

OptoTop 高精度纳米级三维形貌仪



设备介绍:
OptoTop不仅可以测量材料的表面三维形貌,而且可以测量表面的颗粒度,纳米颗粒大小和粗糙度,以及复杂的表面磨耗性能。OptoTop可满足研发、磨损分析、失效分析及工艺控制等领域的需求。

设备优点:

¤ 操作简便
¤ 高速数据采集能力
¤ 强大的数据分析能力
¤ 对各种材料和涂层进行智能测量
¤ 线性轮廓的微粗糙度值
¤ 实现2-D线性剖面,3-D显示表面轮廓及高度剖面


应用领域:

◆ 平坦、结构性及弯曲表面的粗糙度及结构分析
◆测量宏观和微观的几何结构
◆表面控制,例如滚动起伏(选购配件:移动式装置)



技术资料

感应度 白光共聚焦
测量范围Z* 300m 1mm 2mm
解析度Z* 12nm 25nm 75nm
侧向解析度 1.55m 2m 4m
测量感应距离 11mm 12.7mm 16.4mm
测量频率 30Hz,100Hz,300Hz,1kHzv
标准XY轴试验范围 60x60mm
移动速度 0.1-10mm/s
标准样品台大小 165x165mm或定制品



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