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粉体阻抗测定系统 MCP-PD51

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详细介绍
商品名称:粉体阻抗测定系统 MCP-PD51
特色:用于研究开发、质量管理第一线,执行粉体之物性管理
与阻抗率计Loresta-GP,Hiresta-UP连接,以测定广范围之粉体之低阻抗、高阻抗
样品的交换、清扫简单、可采一触式着离探头
各种粉体的形状,粒径分布之不同依压力依存性把握其阻抗率及压缩容积
测定及数据、备有达执行图形化之软件以供选购
测定对象:金属粉、碳粉类、陶磁粉…等导电性粉体


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