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超低杂散光智能光纤光谱仪Exemplar Plus LS
- 品牌:美国必达泰克
- 型号: BTC645N
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 必达泰克光电科技(上海)有限公司
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企业性质
入驻年限第10年
营业执照
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- 详细介绍
Exemplar Plus LS采用低杂散非交叉光路设计和高灵敏TE致冷背照式CCD阵列检测器,是理想的高性能光谱测量产品。得益于宽动态范围和低杂散光,使其更加适合透过与吸光度检测。高灵敏度和优异的信噪比使其更加适合弱光信号的测量,是荧光光谱和拉曼光谱应用的**选择。
特点:
高紫外可见近红外光谱响应
TE致冷,zuidi可致冷至比室温低25℃
峰值量子效率大于90%,200nm处量子效率大于60%
超低杂散光,<0.02% @ 400 nm
光谱范围180-1100nm,最小光谱分辨率0.1nm
**信噪比可至4800:1
应用:
吸收/透射光谱分析
荧光光谱/拉曼光谱应用
在线过程监控
生物医学/农业食品
大气水质分析
弱光信号光谱检测
光谱范围 180-1100nm 光谱分辨率 0.1nm 杂散光 <0.02% @ 400 nm 信噪比 4800:1 动态范围 50000:1 检测器类型 2048元背照式CCD检测器@14um*900um 致冷温度 低于环境温度25℃(默认0℃) 光谱仪F# 3.0 光谱仪光路 全息光路 电源输入 5V DC@3.0 A 数字分辨率 16-bit 读出速度 >400KHz 数据传输速度 600MB/s(Max) 最小积分时间/调节步长 6ms/1us Aux Port 外触发 触发延迟 95ns+/-20ns 操作温度 5-35℃ 相对湿度 85%,无冷凝 重量 ~1.2kg 尺寸 178*108*67mm 计算机接口 USB 3.0/2.0 操作系统 Win XP , Vista(32-bit) , Win 7 , Win 8