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日立高分辨冷场发射扫描电镜 SU9000

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日立高分辨冷场发射扫描电镜 SU9000 核心参数
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详细介绍

SU9000是上高二次电子分辨率(0.4nm@30kV)和STEM分辨率(0.34nm@30kV)的扫描电镜。它采取了特的真空系统和电子光学系统,不仅分辨率性能优异,而且作为冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作,可以快速稳定的进行超高分辨成像。

​主要特点:

1.  新型电子光学系统设计达到扫描电镜Z高分辨率:二次电子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。

2.  用改良的高真空性能和无与伦比的电子束稳定性来实现高效率截面观察。

3.  采用全新设计的Super E x B能量过滤技术,高效,灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。

 

应用领域:

1.      半导体器件

2.      高分子材料

3.      纳米材料

4.      生命科学


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