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瑞典XCounter XC-FLITE X系列 X射线设备
- 品牌：瑞典XCounter
- 货号： 0
- 产地：瑞典
- 供应商报价： 面议
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丹东林帝科技发展有限公司
更新时间：2017-05-17 10:47:32 -
企业性质授权代理商
入驻年限第9年
营业执照已审核
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- 详细介绍
产品描述X 系列
XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度最高90mm/s。
引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE X系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列的内部自动控制，整个扫描过程是透明可见的。
集成
XC-FLITE X系列，通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*自扫描设计，透明可见
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*扫描速度最高90mm/s
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
技术参数单
基本参数物理参数
尺寸 （L×W×H）
XC-FLITE X1：32.9×22.0×5.5cm
XC- FLITE X2：54.2×40.2×8.7cm
XC-FLITE X3：63.0×57.1×8.5cm温度控制
内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度
+10 - +40℃
储藏温度
-10-+60℃ @ 10% - 95% 湿度
射线窗
碳纤维， 厚500μm
射线屏蔽
根据应用
传感器
传感器数量
X1：1 X2：2 X3：3
传感器类型
双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度
0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积
X1：154.7×12.8mm(1536×128像素)
X2：309.4×12.8mm(3072×128像素)
X3：464.1×12.8mm（4608×128像素）像素
100μm
像素填充率
100%
性能
最大扫描速度
X1：90 mm/s X2 & X3：255 mm/s
帧率
最高1000 fps （也可选择时间延迟总和模式）
动态范围
12 bits
图像面元
1×1，2×2， 4×4
成像时间
100μs-5s
DQE（0）
Detective Quantum Efficiency85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function＞80% @ 2lp/mm
＞45% @ 5lp/mm管KV范围
15-250kVp
内部测试图样
Pseudo-random debug pattern
外部触发输出
3.3V TTL
输入
5V
滞后
0%
拖影
＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy）
