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瑞典XCounter 双能探测器

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详细介绍

瑞典XCounter 双能探测器

 

产品描述   FX系列
XC-FLITE FX1FX2FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
 
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
 
引进反符合技术的双能采集功能,是XC-FLITE FX系列产品的先进之处,在双能采集过程中,收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进,可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。  
 
集成
XC-FLITE FX系列,通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有XC-FLITE FX的功能;可用在Windows XPVistaWindows7Windows8系统平台
 
应用
*小范围辐照   
*小动物成像
*实验室样品和标本成像    
*工业检测(NDT
 
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*兼容Windows操作系统,从XPWindows8
*绑定强大的可编程的开发软件
 
 
基本参数

物理参数



尺寸 L×W×H


XC-FLITE FX123.1×13.1×6.0 cm
XC-FLITE FX238.6×13.1×6.5 cm
XC-FLITE FX354.0×13.1×6.5 cm

温度控制


内部的珀尔帖效应温度控制

环境温度


+10 - +40

储藏温度


-10-+60 @ 10% to 95% 湿度

射线窗


碳纤维, 500μm

射线屏蔽


根据应用

传感器



传感器数量


FX11   FX22    FX33

传感器类型


双能光子计数 CdTe-CMOS

传感器厚度


0.75mm-2.0mm CdTe

有效面积


FX1154.7×12.8mm (1536×128像素)
FX2309.4×12.8mm (3072×128像素)
FX3464.1×12.8mm4608×128像素)

像素


100μm

像素填充率


100%




性能



帧率


最高1000 fps(也可选择时间延迟求和模式)

动态范围


12 bits

图像面元


1×12×24×4

成像时间


100μs-5s

DQE0
Detective Quantum Efficiency


85%@RQA5 spectra

MTF
Modulation Transfer Function


80% @ 2lp/mm  
45% @ 5lp/mm

KV范围


15-250kVp

内部测试图样


Pseudo-random debug pattern

外部触发输出


3.3V TTL

输入


5V

滞后


0%

拖影


0.1%  X射线开启后1分钟,(12μGy

分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off   


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