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Jandel通用型四探针测试仪

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详细介绍

Jandel这种组合方式是目前jandel公司的产品.

该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。


可测晶片直径D≤250mm(可选配D≤300mm,无需付费)
可测晶片厚度H≤250mm(可更厚,请咨询)
微动开关防止探针不与样品接触时的电流流动
手动控制探针接触和移动的简单杠杆操作
装配简单RM300和四探针探头通过单线连接
系统配置组成部件

测试台----1个

可调节高度主机----1台

可调节高度轴杆----1根

四探针探头----1个

连接电缆----1根


设备尺寸

可调节高度测试台:W*L*H(mm)250*290*8(320*370*8,可选)

可调节高度探头组件:W*L*H(mm)60*280*80(60*330*80,可选)

可调节高度的轴杆:D(mm)19;L(mm)200(可定制最高高度到1000mm)


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