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Xenemetrix入门级台式X荧光光谱仪X-Cite

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详细介绍

一、 主要特点

(1)、可对F(9)-Fm(100)(ppm~100%)进行无损定性、定量分析;

(2)6款管滤光片,更快更精确的测定微量及痕量元素;

(3)、可配置硅漂移探测器SDD (分辨率为129eV),适于高和低原子序数的元素分析检测;

(4)、外型坚固耐用,适于移动实验室,符合冲击试验MIL810E规格;

(5)、配备集成电脑、专业nEXt分析软件,操作方便;

二、主要技术参数

系统规格

PD 版本

SDD 版本

测量范围

Na(11) - Fm(100)

F(9) - Fm(100)

测量浓度

ppm -100%

ppm -100%

X-射线管靶材

Rh (Ag/Mo/W/Pd)

X-射线管电压/功率

35 kV, 9W

40 kV, 18 W

激发类型

直接激发,管滤光片

探测器

电制冷PIN二极管

硅漂移探测器SDD

分辨率(FWHM)

155 eV ± 10 eV

129 eV ± 5eV

自动进样器

8

工作环境

空气/真空/氦气

管滤光片

6款软件可选

操作软件

nEXt分析包(包含基础基本参数法)Microsoft Windows OS操作系统。

报告

用户自定义数据打印输出

选配件

16位自动进样器、专业基本参数法、氦气净化器、CCD摄像头等

三、应用领域

石油化工、冶金/合金样品

环境、石油/燃料/柴油等、医药生物化学等

矿产地质(含稀土元素)、贵金属检测、法鉴

技术资料
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